氧化铌中使塞贝克系数得以增强检测方案(导热仪)
利用密度泛函理论，分别用铌和氮填充氧化铌中的1a和1b空位后进行了系统的探索，设计出具有较大塞贝克系数的化合物。最主要的效应是在1b魏考夫位点填入氮后，塞贝克系数增加了5倍。这个结果可以从电子结构上理解，铌的非金属p轨道杂化引发量子约束，使塞贝克系数得以增强。通过测量反应溅射薄膜的塞贝克系数，可以验证这一点。使用Linseis的塞贝克系数/电阻测试仪LSR-3/1100同步测量了铌氧氮薄膜的塞贝克系数和电阻率。在800 °C这些导电氮氧化物的塞贝克系数为-70 μV/K，这是有史以来报道这些化合物中绝 对值最 大的。
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德国林赛斯热分析
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铜锌冶炼行业 、有色金属中汞、除汞、汞监测检测方案(测汞仪)
硫酸是锌厂和铜厂的重要副产品。铜矿石和锌矿石的汞含量通常也较高。在焙烧过程中加热时，汞从矿石中蒸发，如果不除去，最终会在硫酸中出现。硫酸在食品和其他工业中进一步使用中是不允许含有汞的。因此在硫酸生产过程中需要采用特殊工艺除汞。焙烧气体中的汞去除效率可以由RA-915M/RA-915AM汞分析仪进行有效监测，因为其独特的特征—塞曼背景校正的非选择性吸收-即使在高含量SO2的存在下也可以实现汞的准确测定。通过汞分析仪的在线监测，硫酸生产商可以在线监测除汞过程的效率，并在形成最终产品之前采取措施防止汞污染。
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汞、除汞、汞监测
LUMEX INSTRUMENTS (鲁美科思分析仪器)
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高纯度金属中定量分析检测方案(等离子体质谱)
激光剥蚀-ICP-MS (LA-ICP-MS) 可用于固体样品和粉末中的元素分析，其中包括地质材料、陶瓷、生物组织和法医样品。本研究使用两种校准策略（基质匹配和非基质匹配）对高纯度金属进行定量分析。LA-ICP-MS 可直接分析固体样品，因此与标准液体样品进样相比，固体样品只需极少的样品前处理步骤。由于无需溶出过程，降低了分析物损失的风险，也避免了引入污染物。但是，由于缺少固体校准标样，LA-ICP-MS 分析可能难以实现精确定量分析。用于固体样品分析的校准标样比用于液体样品分析的校准标样更难以制备，含合适浓度分析物的基质匹配的固体校准标样也比较少见。在金属行业等少数领域中可能已经获得特征明确的基质匹配标准品，因为电弧/火花或辉光放电 (GD) 光学发射光谱 (OES) 等成熟分析技术中使用固体标样。
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安捷伦科技(中国)有限公司
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铑灰中前处理检测方案(微波消解仪)
铑是一种银白色、坚硬的金属，具有高反射率。铑金属通常不会形成氧化物，熔融的铑会吸收氧气，但在凝固的过程中释放。钌、铑、钯、锇、铱、铂6个元素在地壳中的含量都非常少。这6个元素在化学上称作铂族元素，加上银和金，统称为贵金属。除了铂在地壳中的含量为亿分之五、钯在地壳中的含量为亿分之一外，钌、铑、锇、铱4个元素在地壳中的含量都只有十亿分之一。又由于它们多分散于各种矿石之中，很少形成大的聚集，所以价格昂贵。为了提取铑灰中的铑元素，我们采用微波消解的方法对铑灰样品进行前处理，ICP-MS进行后续的检测，通过铑元素的回收情况，选择最佳的消解参数。
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海能未来技术集团股份有限公司
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金属材料中微观结构检测方案(其它元素分析仪)
Abstract. This study investigates the changes in radial micro-texture via Kearn’s f-factors during single cold pilger reduction
of a titanium Ti-3-2.5 alloy as a result of strain path changes from tooling modifications. EBSD results confirm that the
texture intensity as well as the radial f-factors can be increased by modifications of pilgering tooling. In addition a switch
between the secondary prism planes which lie normal to the pilger direction in the starting tube to primary prism planes
after pilgering has been observed.
Material and Experimental
The tubes investigated were made from Ti alloy 3Al 2.5V, they were manufactured via hot extrusion and then cold pilgered.
The cold pilger process configuration is schematically shown in Figure 1. Two strain paths, shown in the ‘Q‘ factor chart in
Figure 2, were used in the manufactiure: texture minimised and texture maximised. They were annealed at 750oC before
being cold pilgered and for this investigation they were stress relieved at 530oC for 2 hours prior to EBSD examination.
Specimens were extracted from two regions either side of the reduced tube as shown in the schematic Figure 2, mounted
in conductive Bakelite and polished mechanically for EBSD examination. The final polish was carried out using vibratory
polishes using a mixture of 5:2 colloidal silica, hydrogen peroxide mixture. EBSD examination was conducted using a
FEGSEM and OI EBSD Nordlys detector and AZtec Software.
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理化分析
牛津仪器科技（上海）有限公司
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化合物半导体核壳结构纳米金属线中低加速电压SEM/STEM观察/EDX分析检测方案(扫描电镜)
半导体纳米金属线，因其物理特性可控，所以未来有望应用于光学器件上。尤其是异相聚合机构或者核壳结构的材料，富有多重物理特性，应用范围也会变得更广泛。图1是化合物半导体核壳结构纳米金属线的SE/STEM观察结果。图1(a)是二次电子图像显示了纳米金属线的表面形貌。图1(b)(c)的BF-STEM/DF-STEM图像，可以清楚观察到纳米金属先端的内部构造，可以确认核，内壳层和外壳层的三层结构。
图2是化合物半导体核壳结构纳米金属线的EDX面分布。核壳层和外壳层检测到Ga和As，内壳层检测到Al和As，能够清楚地分离出三层的结构的各种成分分布。SU9000与大立体检测角的X-MaxN 100TLE相结合，可实现超高空间分辨率的EDX面分布。
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理化分析
日立科学仪器（北京）有限公司
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钛镍钯合金中相变测试检测方案(其它热分析仪)
敏感性材料领域的发展非常的迅速，记忆合金是其中讨论的非常多的一个方面。形状记忆合金（SMA）可以达到塑性的实质形变，通过加热，可促使其恢复到原来的形状。早期的应用，如：通过温度调节通风，从而调节温室的窗户开钩；由超弹性SMA制成的移动电话线，整个90年代，这一系列的应用呈现大量的增长。由于SMA的超弹性和形状记忆性能，SMA在医药行业的应用迅速发展，人们对此也越来越感兴趣。
详情请见：http://www.ngb-netzsch.com.cn/technics/applarticles/tinipa%20alloys.html
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理化分析
德国耐驰热分析
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铑灰中微波消解前处理检测方案(微波消解仪)
铑是一种银白色、坚硬的金属，具有高反射率。铑金属通常不会形成氧化物，熔融的铑会吸收氧气，但在凝固的过程中释放。钌、铑、钯、锇、铱、铂6个元素在地壳中的含量都非常少。这6个元素在化学上称作铂族元素，加上银和金，统称为贵金属。除了铂在地壳中的含量为亿分之五、钯在地壳中的含量为亿分之一外，钌、铑、锇、铱4个元素在地壳中的含量都只有十亿分之一。又由于它们多分散于各种矿石之中，很少形成大的聚集，所以价格昂贵。为了提取铑灰中的铑元素，我们采用微波消解的方法对铑灰样品进行前处理，ICP-MS进行后续的检测，通过铑元素的回收情况，选择最佳的消解参数。
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上海新仪微波化学科技有限公司
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金属混合物中微量元素检测方案(ICP-AES)
等离子发射光谱(ICP-OES)在冶金行业微量元素的准确定量中得以广泛应用，因为其简化了样品前处理，无需复杂的基体分离和元素富集，更不会引入其他干扰元素和杂质。同时样品不需要过量稀释而引入稀释误差。尽管有如此多的优点在先，其在该领域运用也有不可规避的挑战：光谱干扰。许多基体有非常复杂的发射谱线，例如铁有2000条谱线，这就增加了元素间谱线干扰的可能。在冶金行业，因微量元素含量低，稀释倍数受限，所以其基体的光谱干扰就变得尤为突出。虽然目前有多种消除干扰的数据处理方法，PerkinElmer公司专利的多谱线拟合矫正（MSF）技术是最强大和易操作的。对于多谱线拟合矫正方法有过很详细的介绍，见参考文献1. 简而言之，多谱线拟合就是通过已知的空白、目标元素和干扰元素谱图叠加而拟合出一个无干扰状态的峰型。该消除干扰方式包含了所有的光谱信息，与积分背景点、积分点数等无关。
本文利用Avio 500 等离子体发射光谱仪对最具挑战性的冶金样品进行分析，通过多谱线拟合（MSF）矫正技术以得到更加准确可靠的测量结果。
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含量分析
珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
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整体材料中超痕量金属检测方案(辉光放电质谱)
ELEMENT GD PLUS GD-MS 将具有优越属性的不同部件集成在单一仪器中，提供了无与伦比的速度、灵敏度和准确性。ELEMENT GD PLUS GD-MS 离子源和样品夹的设计使换样更容易，适于常规操作，提高样品分析通量。
ELEMENT GD PLUS GD-MS 采用先进的高分辨率扇形磁场技术。GD-MS 的主要限制是存在等离子体中基体元素及放电气体与其它核素聚合物的干扰。因此，通过高分辨将分析物与大部分干扰分开是准确测定的先决条件。质量校准的高度精密、准确性对于快速分析、准确跳峰而言至关重要。ELEMENT GD PLUS 具有全自动质量锁定程序，因此质量校准将不再是分析时的常规步骤。
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含量分析
赛默飞色谱与质谱
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仪器信息网行业应用栏目为您提供107篇其他检测方案，可分别用于，参考标准主要有等