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V2O5离子存储薄膜中制备及其Ni掺杂改性研究检测方案(电化学工作站)

离子存储层(对电极层)是全固态电致变色器件的关键膜层,其作用是存储 和提供电致变色所需的离子,维持电荷平衡,因此要求它具有较大的离子存储能力,较好的离子存储稳定性及循环寿命,并且同电致变色材料同步致色时光学性能变化较小,其性能的好坏直接影响到整个器件的循环耐用性和光学对比度。在以a-WO3薄膜为电致变色层的灵巧窗中,弱阴极致色的V2O5薄膜是最具有 实用价值的候选锂离子存储材料之一,它具有半导体特性和层状结构,有利于离子传输,在聚合物电解质中化学性能稳定,具有较大的电荷储存密度,光学性质不明显依赖于注入的离子和电子浓度。但是目前要使其真正进入实际应用还需进一步提高薄膜的离子存储能力,优化制备工艺参数和对薄膜进行合理掺杂是两种有效提高薄膜性能的方法。实验采用射频磁控反应溅射技术在ITO玻璃基片上沉积固态V2O5和V2O5:Ni薄膜,文中介绍了薄膜的离子存储及溅射掺杂机理,并通过X射线衍射、X射线光电子能谱、紫外-可见光分度计和标准三电极法分别研究薄膜的结构、组成、光学及电化学性能,主要讨论氧分量、溅射功率、溅射温度等工艺参数以及Ni掺杂参数对薄膜的结构和性能的影响。研究表明:室温下用射频磁控反应溅射技术制备的V2O5和V2O5:Ni薄膜为非晶态,少量Ni掺杂不会改变薄膜的非晶态结构,在Li离子注入/退出过程中表现出良好的离子存储特性;较低的氧分量和溅射温度有助于提高薄膜的半导体特性及离子存储特性,在一定范围内提高溅射功率,可有效提高薄膜的离子存储能力及伏安循环特性;而V2O5薄膜掺杂Ni之后,非晶态的趋势稍强于纯V2O5薄膜,结构的微弱变化导致了V2O5:Ni薄膜具有更好的离子存储特性;掺杂工艺对薄膜的电化学性能影响较为复杂,主要与相对掺杂量和掺杂方式有关,当相对掺杂量处于有效掺杂范围和最佳值附近时,掺杂越均匀,薄膜的综合性能越好,同时掺 杂次数也存在一个最佳值。
检测样品: 其他
检测项: 制备及其Ni掺杂改性研究

天津市兰力科化学电子高技术有限公司

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材料中无损探伤检测方案(真空泵)

真空的必要性 为进行辐射监测,首先必须将X射线管抽空至所需的高真空环境(x< 10-5 mbar)。这就需要一个真空系统。需要的设备包括涡轮分子泵(HiPace 80)、作为前级泵的小隔膜泵(MVP 015) 以及真空规(IMR 265)。手持编程设备(HPU 001)用来充当移动控制和显示装置。这样就能监测所有泵的参数以及客户的具体参数组。 普发真空与光学检测系统和x射线检测系统的制造商和业内领先专家合作。在实际操作过程中,采用了光学和x射线检测相结合的方法,为用户优化了成本(最大程度地降低了运营成本并缩短了线长)。 应用范围广泛,从食品产业到空间技术都有 随着产品质量要求的日益提高,相应地,对相关元件进行全面检测的需求也正日益凸显。在某些应用领域,如汽车技术和航空航天,必须对所有元件进行全面检测,任何电子设备的缺陷或瑕疵而导致的故障都有可能引发致命的后果。电路板、组件、焊点和焊点都需要进行检测。 半导体行业是采用X射线进行检测的主要行业,尤其是在其高端制造工艺环节。这个市场对精确测量的要求相当高,这就促成了一整套的检测系统。阶段性的检测被贯穿在成品生产的每个工艺环节,确保能进行半导体晶片的实时表面分析检测。 例如在食品行业,需要检查瓶口有无损坏或污染,在医学技术领域,需要检查所有电子部件是否有虚焊点、焊桥、对准失误的组件、焊接不当以及缺失或安装不正确的部件。在机械工程领域,需要检测金属或塑料元件有无开裂或收缩现象。 实际操作中为了达到完美效果,必须考虑一些重要的因素。其中包括真空系统和x射线技术。为帮助工业用户达到低成本高效益,在选择合适的真空元件以及x射线管设计、采纳和应用过程中都需要专家的意见。
检测样品: 其他
检测项: 无损探伤

普发真空技术(上海)有限公司

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高有机相稀释剂中样品峰形检测方案(液相色谱仪)

理想情况下,在运行色谱方法时,样品稀释剂组分应尽可能接近方法起始条件。这样做的目的是最大程度减小由样品溶剂效应引起的谱带展宽和峰畸变,进而避免出现峰不对称性、峰分裂或数据不可用的情况。引起溶剂效应原因是稀释剂与流动相之间存在洗脱强度差异。当稀释剂的洗脱强度高于流动相时,峰展宽和峰形异常的情况通常会更加严重1-2。事实上,业内普遍认为,最好是将进样的样品溶解于起始流动相中。然而,给定样品的预处理常常需要将分析物溶解在与流动相组分相差很大的溶剂中。为了避免溶解度问题和峰形不佳的问题,许多方案都要求在预处理过程中挥干样品溶剂,然后将样品复溶于流动相中。然而,这个额外的步骤非常耗时,所需时间往往比HPLC分析的时间还要长1。一般而言,推荐的做法是避免使用比流动相更强的溶剂来溶解样品和标准品。这种做法基于如下假设:强于流动相的进样溶剂会干扰样品在柱头处的吸附,而采用大体积进样时尤其如此2。遗憾的是,这种做法在实践中可行性不佳,因为分析人员往往必须根据样品的溶解度来决定有机溶剂的含量,以确保样品能够完全溶解。对于扩散体积较大的传统LC系统,这种现象带来的问题较少,因为柱前样品/溶剂/流动相混合很充分,可以缓解溶剂效应造成的色谱峰问题。然而,对于现代的低分散U(H)PLC系统,如果以较大体积进样含有高有机相的样品,就会出现问题,并可能导致峰对称性变差或峰分裂。
检测样品: 其他
检测项: 样品峰形

沃特世科技(上海)有限公司(Waters)

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