面粉中质量参数检测方案

BUCHILabortechnik AGCH-9230 Flawil/ SwitzeriandQuality in your handswww.buchi.com 近红外光谱快速评估软质面粉的质量参数 BUCHI Labortechnik AG， Switzerland 前言 面粉可以分为不同等级和不同种类，生产中通过将不同的品种的小麦混合在一起碾磨或者将不同种类的面粉按一定的比例混合来实现。不同种类的面粉都有自己特定的使用领域，某些品种的面粉用来制成新鲜面包；而另一些品种的面粉用来制成蛋糕、饼干或别的烘焙类食品。每种烘焙食品都需要特定品质的面粉作为原材料，如果在实际的制作过程中所投放的面粉 材料和方法 面粉中各个参数的模型建立分别基于150-500不等样品，不同等级面粉样品收集时间从2007年至今；收集地点包括意大利、美国、拉丁美洲、德国和韩国等。采用固体漫反射测量模式，结合标准值，对模型进行不断的优化和升级。利用两款傅里叶变换-近红外光仪 NIRFlex N-500 和 NIRMaster(BUCHILabortechnikAG)进行光谱扫描(如图所示)，光谱范围为4000-10000cm分辨率8cm 结果 各个参数对应的模型建立效果良好，可以用来对日常生产进行质量控制。 总结 结果表明：利用 FT-NIR 光谱仪，搭载简单的样品测量附件，采用漫反射测量模式，在10000-4000cm 范围内快速获得准确度与标准方法一致的数值。因而可以利用近红外光谱来对每一批次的面粉质量进行快速评价。 种类与所需的不一致，将导致整条生产线上的产品都不合格，带来巨大的经济损失。考虑到烘焙行业每天需要的面粉原料数量巨大并且是来自许多不同的供应商。日常生产中需要测量每批次面粉原料中的水分、蛋白和流变参数指标。另外，面粉中的水分吸收值、强度W 值、P/L值等都需要进行测定以控制面粉的质量 许多烘焙食品企业， 例如 Barilla 公司，在过去的几年间发展了利用近红外光谱对面粉各种质量参数进行快速无损的测定方法。 面粉样品近红外光谱如右图所示。 样品进行光谱扫描后，需要利用常规的破坏性的方法测定其标准值：水分、蛋白、灰分和降落数值采用国际 ISO 方法进行测量；流变参数测量采用 Chopin 面筋拉力测定仪和 Brabender 淀粉测定仪。利用禾学计量学软件 NIRCal 5.4 (BUCHILabortechnik AG)，将光谱数据与标准值结合建立校准模型(一个参数对应一个模型)。 Correlation curves representing calibration models of NIR Vsreference measurements for Soft Wheat Rour quality properties：Protein， W and Baking Absorption. ( 参考文献 )