AIN中光学特性检测方案(椭偏仪)
The feasibility of using the MM-16 SE in measuring thickness and refractive index of AlN thin and thick films has been demonstrated. Non destructive measurement of thickness was successfully applied to films as thick as 3μm deposited on Si. The multi-layer models with a surface layer with void and the simple dispersion gave useful information about surface roughness, film density and oxygen contamination.
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光学特性
HORIBA（中国）
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高纯硅样品中Co 元素检测方案(等离子体质谱)
Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。
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Co 元素
安捷伦科技(中国)有限公司
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半导体引线框架镀层中铅检测方案(激光诱导击穿)
人体血液中的铅( Pb )与严重的神经、行为和发育问题有关，在幼儿身上尤其如此。因此，欧盟通过了《限制有害物质指令》，禁止在电子产品中使用超过规定浓度的铅、镉、汞、铬( VI )、多溴联苯( PBB )和多溴联苯醚( PBDEs )。RoHS指令为电子设备和设备建立了1000ppm的Pb的最大允许浓度限值。 由于全球各地的制造商必须遵守其电子产品的有害物质限制规定，因此产品制造商及其供应链必须确定合适的分析仪器，以便对诸如铅等有害元素进行检测，因而灵敏度和准确度都很高。
目前，电感耦合等离子体光学和原子发射光谱（ICP-OES和ICP-AES）在业界被用作RoHS一致性验证的分析方法。 然而，ICP-OES需要在分析之前进行固体样品的复杂和耗时的酸溶解，以及重要的科学专业知识来执行分析。这使得ICP-OES不能作为一种快速的Pb监测技术，用于大量样品的质量控制。XRF近年来也用于监测成品中的铅。这种方法虽然方便，但其在为薄而小样品提供精确和精确的浓度测定方面面临着挑战。因此，XRF仅用于筛选RoHS元素，而不是用于最终确定元素含量。LIBS，LA-IC-PMS和ICP-OES在大多数样品上显示非常相似的结果
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铅
北京富尔邦科技发展有限责任公司
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封装应用中的势垒层中过程控制检测方案(椭偏仪)
The UVISEL FUV combines high-speed acquisition, high accuracy and versatility with a straightforward recipe mode for automated tasks. This powerful combination allows the UVISEL spectroscopic ellipsometer to be used for monitoring the production of barrier coatings for packaging applications in real time.
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过程控制
HORIBA（中国）
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inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试
微控制器 MCU 芯片广泛应用于消费电子 (手机, 打印机), 计算机网络, 工业控制, 医疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中, 汽车是 MCU 芯片最大的应用市场, 传统汽车单车会平均用到 70个左右, 而新能源汽车则需要用到 300多个, 应用领域包括 ADAS, 车身, 底盘及安全, 信息娱乐, 动力系统等, 几乎无处不在. 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的 MCU 芯片高低温测试难题.
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MCU 芯片高低温测试
伯东公司德国普发真空pfeiffer
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工业物理-半导体回流焊炉在线应用，确保焊接无氧环境
为了尽量减少焊接表面上的氧化，一些烘箱在氮气（N2）覆盖层下进行回流阶段，以确保无氧环境。这一过程进一步减少了产品中的缺陷。通过监测氧气，可以控制氮气的进料，以确保产品质量，并节省气体消耗。
对于回流焊过程中的微量氧分析，工业物理为您提供 Systech Illinois 希仕代 EC913 系列电池氧分析仪，快速测量ppm级微量氧含量，并提供自动隔离保护功能，避免接触空气。
EC913氧分析仪采用专利设计的 RACE™ 电池传感器，专用于监测多种工业气体及氮气吹扫中的微量氧。设备在监测惰性和易燃气体时可实现从空气到ppm级的超快速响应，同时提供充分的保护，防止ppm 级微量传感器接触空气。
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回流炉在线微量氧分析应用
工业物理
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阴极发光设备（SEM-CL）在量子异质结构方面的应用
20世纪下半叶见证了半导体量子结构的出现，这是由于半导体量子结构在发光方面的卓越性能。将维数降为点状量子点(QDs)，量子点与原子表现出有趣的相似之处，人们付出了巨大的努力来评估它们的性质。
考虑到光和纳米线之间的强相互作用，嵌入在被称为纳米线(NWs)的丝状晶体中的量子点的生长变得相关。NWs中的量子点尤其有望成为量子技术的关键要素，如量子通信和密码学。然而，量子点(约5-10 nm)和量子点的维数都降低了(直径约100 - 200nm)会使量子点性质的测量变得非常复杂。特别是，由于衍射的限制，很难用全光学测量来评估紧密放置点之间的绝对量子点位置和分辨率。
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量子异质结构
北京正通远恒科技有限公司
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仪器信息网行业应用栏目为您提供236篇其他检测方案，可分别用于，参考标准主要有等