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LED中可见光谱检测方案(光纤光谱仪)
为什么要使用光谱仪进行颜色测量？
光谱仪会获得更多信息，而且更具灵活性。事实上，很多客户都是使用光谱仪来进行颜色测量的。
简单的色度仪是使用红、绿、蓝滤光片配合二极管或者感应像元进行颜色测量的，更高级的一些测量系统，是使用模仿CIE颜色匹配指标的三基色滤光片。对于白炽灯检测而言，这些设备足够了，但是如果需要精确测量LED ，这些设备的性能远远不够。
手持式色度仪大概精度为20个波长带宽，这远远不能满足高精确度的测量。
为了进行颜色变化很小的测试，高精度分辨的颜色测量是必须的。为了获取全光谱，使用光谱仪可以获得更精准、更详细的颜色信息。色度仪及分析是基于滤光片或者特征带宽，然后获得颜色信息，但是光谱仪会获得更多的原始光谱信息和颜色信息。
一些颜色分析非常依赖于光源的状况，因为物体会因为不同照度的光源照射显示一定的颜色差。正确使用光源，可以将两个本身反射光谱有差异但是颜色看上去差不多的物体区别开，这就是我们常说的同色异谱。如果光源变化，颜色也肯定不一样，所以对使用光源的控制尤为重要，因为这决定了颜色测量的结果。
当使用光谱仪进行颜色测量时，反射或者辐射光谱数据可以作为所有计算的支撑数据。数据可以通过不同的方式进行计算，另外如果视场角、光源或者色度空间发生变化，还可以基于这些数据对颜色进行重新计算，所以光谱仪实现了在同等精确度颜色测量上最大程度的灵活性。
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FTIR通过真空模型测量硅片
Analysis Example by Vacuum Model FT/IR (1)
Measurement of Silicon Wafer
(1/1)
No. 220TR0164-E
Due to the high refractive index of silicon wafer samples, there is a correspondingly high reflectance from the sample. If the
sample is placed directly in the sample compartment, vertical to the incident source beam, the reflection of the source returns to the
interferometer, is reflected by the beamsplitter and then illuminates the sample again. As a result, the sample pathlength of the
sample measurement is different from the background measurement and excessive noise is observed due to the atmospheric water
vapor, even with a purged instrument. While it is possible to adjust the angle of the sample with respect to the incident source
illumination, using an evacuated FT-IR instrument allows measurement of the sample vertical to the incident illumination without
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FTIR通过真空模型测量硅片
Analysis Example by Vacuum Model FT/IR (1)
Measurement of Silicon Wafer
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No. 220TR0164-E
Due to the high refractive index of silicon wafer samples, there is a correspondingly high reflectance from the sample. If the
sample is placed directly in the sample compartment, vertical to the incident source beam, the reflection of the source returns to the
interferometer, is reflected by the beamsplitter and then illuminates the sample again. As a result, the sample pathlength of the
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vapor, even with a purged instrument. While it is possible to adjust the angle of the sample with respect to the incident source
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电子级硅烷中杂质检测方案(气相色谱仪)
1857年德国化学家H Buff发现硅烷，在以后的100年左右的时间里硅烷只是少数研究者在实验室里研究的对象。20世纪50年代半导体科技崛起，人们开始考虑硅烷的特性，硅烷开始在电子工业中得到应用。随着一系列新技术的出现或者硅烷开发新产品的成功，硅烷用量急剧增加。进入90年代, 更多新功能器件的问世，其中已大规模开发的有超高速、超大容量计算机芯片、高清晰度平面显示器、高效率低成本太阳能电池、高性能陶瓷发动机零件、各种特异功能的传感器等等，伴随更多更新的器件涌现，硅烷的需求量逐渐增加。
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高麦克仪器 GOW-MAC
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“HexAuFoil”金属网中孔径大小检测方案(物理气相沉积)
冷冻电镜近几年在分子生物学方向可谓是大放异彩，我国生物学家利用冷冻电镜技术在结构生物学方面也做出了许多举世瞩目的重要成果。冷冻电镜技术几乎的实现了对生物大分子的高精度观察。但在实际应用中仍有很多因素限制了冷冻电镜观测精度的进一步提升。其中重要因素之一是由于电子束照射导致金属网上的玻璃态的水膜发生移动从而影响观测精度。英国剑桥大学的Christopher J. Russo研究组对金属网上玻璃态水膜的移动建立了物理模型，通过分析得出水膜的直径和厚度存在一个临界比值，超过临界比值，水膜在快速冷冻过程中会由于应力作用发生弯曲，并有部分应力冻结在内部。而在电子束照射时，由于电子束照射作用提高了水膜中水分子的扩散系数（~1046倍），玻璃态的水膜便成为了一个“超粘流体”，水膜的应力会进一步的释放使得水膜的曲率发生变化，从而导致了生物大分子的位移，而这个位移只发生在电子束照射时，从而影响成像质量。
如果缩小金属网孔的直径，使水膜的直径和厚度比值在临界以内，在冷冻时水膜内聚集的能量不足以使水膜发生弯曲，电子束照射的能量也不会引发水膜曲率的变化，仅仅会引起水分子的扩散，而扩散对成像的影响远小于曲率的变化。从而可以提高冷冻电镜的成像质量。因此制备高精度小孔径金属网格就显得尤为重要。Christopher J. Russo课题组利用了高精的光刻和电子束蒸发薄膜制备技术在硅片上成功的批量制备出了孔径在200 nm尺度的金属支撑网，使得冷冻电镜测量时样品的位移小于1埃米。
作者利用制备的“HexAuFoil”金属网对223-kDa DPS蛋白质进行了冷冻电镜的观测。结果表明，采用“HexAuFoil” 金属网可以有效减小样品的移动，使得分辨率轻松突破2埃米（更多细节请参考原文）。该篇文章介绍了一种减小样品位置漂移提高冷冻电镜精度的有效途径。
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小型台式无掩膜光刻系统中助力开发新型晶体管检测方案(电子/半导体)
在新冠疫情大流行的背景下，从大量人群中快速筛查出受感染个体对于流行病学研究有着十分重要的意义。目前，新冠病毒诊断方法包括血清学和病毒核酸测试，主要是以分析逆转录聚合酶链反应作为金标准，此方法在检测中核酸提取和扩增程序耗时较长，很难满足对广泛人群进行筛查的要求，因此，亟需发展一种快速的监测方法应对新冠疫情。
近期，复旦大学魏大程教授课题组利用MicroWriter ML3小型台式无掩膜光刻机制备出基于石墨烯场效应晶体管（g-FET）的生物传感器。该传感器上拥有Y形DNA双探针（Y-双探针），可灵敏且快速的实现新冠病毒的核酸检测分析。该传感器中的双探针设计，可以同时靶向新冠病毒核酸的两个目标基因区域：ORF1ab和N基因，从而实现更高的识别率和更低的检出限（0.03份μL−1)。这一检出限比现有的核酸分析低1-2个数量，可避免混检过程中样本病毒载量较低而产生漏网之鱼，实现的混合测试。该传感器也具有快的检测速度，快的核酸检测速度约为1分钟。由于快速、超灵敏、易于操作等特点以及混合检测的能力，这一传感器在大规模范围内筛查新冠病毒和其他流行病感染者方面具有巨大的应用前景。
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功能性测试
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多组分高分子材料中成分分析检测方案(红外光谱仪)
西班牙巴斯克大学的Hillenbrand教授利用nano-FTIR实现了多组分高分子材料的纳米成分分析。研究人员通过检测聚苯乙烯（PS），聚丙烯酸（AC）以及聚偏氟乙烯（FP）混合样品的纳米区域的红外光谱，并与标准样品的纳米红外光谱做对比，得到样品组分的纳米分布图，分辨率达到了30 nm。通过分析样品C-F（1195cm-1），C=O（1740cm-1）及C-O（1155cm-1）峰的强度及波数的空间分布图，可得到对应的高分子组分及组成结构的空间分布。相关研究成果发表于Nature Communications, 2017, 8，14402. Nano-FTIR可以得到材料纳米分辨率的化学信息，分辨率高可达10 nm，是传统FTIR和ATR-IR无法企及的。
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封装胶中微波消解前处理检测方案(微波消解仪)
封装胶是指可以将某些元器件(如电子行业的电阻电容法线路板等)进行密封、包封或灌封的一类电子胶水或粘合剂，灌封后可以起到防水、防潮、防震、防尘、散热、保密等作用。常见的封装胶主要包括环氧类封装胶、有机硅类封装胶、聚氨酯封装胶以及紫外线光固化封装胶等。封装胶的颜色可以是透明无色的，也可以根据需要做出几乎任意颜色。环氧类封装胶:一般都是刚性硬质的，大部分为双组份需要调和后使用，少部分单组份的需要加温才能固化。有机硅类封装胶几乎都是软质弹性的，与环氧相同，其中大部分为双组份需要调和后使用，少部分单组份的需要加温才能固化。为检测封装胶中的无机元素含量，选择微波消解对其进行前处理，探索最适合的消解参数，该方法还有回收率高、空白低等特点，有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
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印制电路板镀铜中有机添加剂的作用及其工艺研究检测方案(电化学工作站)
本文采用化学镀方法在环氧树脂基片上实现了优质铜沉积，成功的研制了沉积
速率适中、稳定性优良的双络合剂化学镀铜工艺。通过对几种电镀铜有机添加剂的对比分析，开发出了能够替代国外进口染料的新型多组分有机添加剂，得到了电镀铜有机添加剂的较适宜配方。研究了化学镀铜的前处理工艺，获得了较好的除油、粗化、活化各工序的配方和操作条件。考察了硫酸铜浓度、有机添加剂浓度、甲醛浓度、络合剂浓度对极化曲线的影响。实验结果表明，硫酸铜浓度、甲醛浓度、络合剂浓度、有机添加剂浓度、酸度、温度对化学沉铜速率、镀液稳定性和镀层性能有较大影响。得到了化学镀铜的适宜工艺条件:CuSO，.5HZo:16叭，EDTA.ZNa:20叭，酒石酸钾钠:14叭，氢氧
化钠:15g/L，甲醛(37%):15ml/L，BoZ:0.o12ml/L，pH值:12.5，温度:45oC，
搅拌:60r/inin。对影响电镀铜效果的各种因素进行了实验分析，通过正交实验得出了有机添加剂的适宜配方。考察了国内染料，进口染料，自配有机添加剂浓度对阴极极化曲线的影响，发现自配有机添加剂可以增大阴极极化，与国外染料极化曲线相似。
得到了电镀铜适宜工艺条件:cus认.5玩0:100目工，HZso4:200叭，有机添加剂:
FO40.029/L、C010.02ml/L、M010.049/L、C030.03ml/L、CO40.01ml/L、
noio.6ml凡、Tos0.12泌、Nael6om泌，I(习如2):5，温度:室温，搅拌
方式:空气搅拌。
采用双络合剂加稳定剂的方法可以提高镀液的稳定性而保持沉铜速率适中，实
验结果表明，双络合剂化学镀铜镀层均匀、致密，镀层结合力强，可用于印制电路板
(PCB)的通孔金属化过程。
赫尔槽实验和TEM分析研究结果表明:酸性电镀铜溶液中加入自配有机添加剂，
镀液深镀能力较好，铜镀层晶粒细致，光亮面积增加，接近于国外染料的效果。
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有机添加剂的作用及其工艺研究
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离子色谱法测定电子产品连接线中的卤素
卤素及卤素化合物常被用作阻燃添加剂而大量的在化学制品中使用，用来制造具有阻燃功能的电子、电器外壳、建筑涂料以及涂层材料等。卤化材料具有高热抵抗功能，可以起到很好的阻燃效果。但是，一旦卤化材料被点燃，将会释放出大量的有害毒气（溴化氢等），这些腐蚀性的气体有损坏设备电子功能的风险。而且研究已证明这些毒素对人体存在致癌致畸和致突变的风险。因此，控制电子产品配件中卤素含量显得尤为重要。
离子色谱法作为检测离子的首选方法，其在卤素离子检测方面的应用非常广泛。氧弹燃烧作为离子色谱分析前处理方法的应用已有文献报道，通过与氧弹燃烧处理方法相结合，可以方便准确的测定样品中的卤素离子。
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仪器信息网行业应用栏目为您提供457篇其他检测方案，可分别用于物理性质检测、化学性质检测、特性检测、功能性测试检测、其它检测，参考标准主要有等