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上海尔迪仪器科技有限公司为您提供《半导体材料中元素分析、薄膜分析、厚度分析检测方案(扫描探针)》,该方案主要用于集成电路中化学性质检测,参考标准--,《半导体材料中元素分析、薄膜分析、厚度分析检测方案(扫描探针)》用到的仪器有bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP、bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP、bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD、bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD