颗粒中电子显微镜进行颗粒分析检测方案(扫描电镜)

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检测项目: 电子显微镜进行颗粒分析
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发布时间: 2021-04-02
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北京欧波同光学技术有限公司

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颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此,它与散装的相应材料(在宏观层面)具有根本不同的物理特性。例如,半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长,使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性,都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。

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采用电子显微镜进行颗粒分析 纳米到微米尺寸的材料的颗粒表征。 应用 颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此,它与散装的相应材料(在宏观层面)具有根本不同的物理特性。例如,半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长,使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性,都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。 另一个例子是增材制造,此流程利用金属进料粉末生产出设计精细的组件。进料粉末颗粒的质量和一致性直接影响生产部件的质量。由于颗粒形态和化学特性的变化可能导致不均匀的分层、缺陷增加以及灾难性的故障,因此化学和物理特性非常必要。另一方面,这些粉末的精确可视化研究有利于创新和改进设计、开发和质量控制。 Thermo Fisher Scientific 提供一系列显微镜解决方案以及先进的分析软件,帮助您进行颗粒表征。无论您需要什么,我们的硬件和软件旨在为颗粒和进料粉末提供自动准确的分析。 过程控制 现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM 和 TEM 工具结合专用的自动化软件、为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。 质量控制 质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光谱工具、使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。 清洁 比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。使用扫描电子显微镜时、可以实现备件清洁分析、提供多种分析数据、缩短生产周期。 基础材料研究 越来越小的规模研究新型材料、以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。 颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此,它与散装的相应材料(在宏观层面)具有根本不同的物理特性。例如,半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长,使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性,都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。 另一个例子是增材制造,此流程利用金属进料粉末生产出设计精细的组件。进料粉末颗粒的质量和一致性直接影响生产部件的质量。由于颗粒形态和化学特性的变化可能导致不均匀的分层、缺陷增加以及灾难性的故障,因此化学和物理特性非常必要。另一方面,这些粉末的精确可视化研究有利于创新和改进设计、开发和质量控制。
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