镀膜材料中透反射率，BRDF，能带间隙检测方案(光纤光谱仪)

R1 角分辨光谱仪|验证“单层膜”标准样品 R1 角分辨光谱仪检测的结果准确吗?本案例通过一个标准样品对其进行了验证。 R1 角分辨光谱仪是用于探测具备“角度依赖(angle-resolved) ”特性物体的光学测量仪器。为了验证他的准确性，我们采用标准样品进行检验。 SiO镀膜 Si 基底样品是一种具有典型“角 度依赖”反射率特性的样品，可以作为一种常见的标准样品，常常用来检光谱型测椭偏仪的性能。因此，我们采用了单层膜结构的镀膜样品作为验证的标样。 单层膜样品的光谱反射率理论计算简单，实际测量中，测试系统要求具备宽谱段覆盖范围(紫外到近红外)；方便的偏振态控制；背反射(0度角)；高精度的角度控制等要 求。以往情况，用户需要采用昂贵的光谱型椭偏仪实现，现在可以采用 R1 可以以松的实现这些功能。 R1 角分辨光谱仪可以测试薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学特性，可以针对半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、自组装单分子层、多层膜物质和石墨烯等样品开展相关的光谱测试。 本案例采用 R1{光谱范围：250nm~2500nm，谱仪型号： PG2000-Pro， 光源型号：iDH2000-BSC}测试样品。测试结果对比发现，采用R1测试的标准单层膜镀膜样品的测试结果和理论计算一致。 上海复享光学股份有限公司是国内最大的光纤光谱仪制造商，我们以最专业的知识为您提供产品和服务。 进一步了解产品信息请联系：400-001-5685|info@ideaoptics.cn 公司网站www.ideaoptics.cn V.APPLICATION NOTE APPLICATION NOTER.V.