薄片样品中制备技巧检测方案(切割机)

Buehler， An ITW CompanyBuehler China·ShanghaiP： +86 4001118683E： Info.cn@buehler.comStronger Partner， Reliable SolutionsBUEHLERAn ITW Company 标乐试样秀 标乐先进的制样技术薄片样品的制备技巧分享/ 前言： 在众多分析领域中，我们经常会遇到需要制备薄片样品的应用，例如，岩相光片分析，透射电镜分析，高温显微镜下组织分析等，需要制备1mm以下，甚至微米级的薄片试样。岩相光片的样品可以将样品通过树脂粘结在载玻片上，然后使用PetroThin 进行精确的切割、研磨减薄。但如果样品需要独立成薄片，该怎么办呢?通过离子减薄虽然达到减薄的效果，但设备投入以及效率仍然有一定局限，所以作为前处理如何通过机械的方法制备一个独立，不带镶嵌树脂或或玻片且需要单面或双面抛光的分析样品，以下会为大家推荐一套制备小技巧。 难点： 1)当样品薄到一定厚度，难以固定或夹持； 2)样品边缘在磨抛时难以得到保护，对于脆性样品，容易在变薄后出现碎裂。 推荐制备方法： 如下以制备需双面抛光的薄片试样为例。 标乐试样秀 说明： 标乐试样秀 第一次磨抛后表面贴上金相胶带目的是为了防止抛光面在粘贴过程中受损伤； 树脂即能保护样品的边界，又能扩大粘贴面积，使粘贴更牢固。 对于脆性样品，研磨时力值尽量小，取出样品时也需小心；对于金属等韧性较好的样品，相对可以减薄至更小厚度，但同样也要注意取出时防止用力过大或者应力导致变形。 对于 TEM分析，样品厚度要求在10~200nm之间，在薄片样品制备完成后需通过离子减薄或电解双喷等方式继续减薄。 ELHEUB www.buehler.com.cn 前言：在众多分析领域中，我们经常会遇到需要制备薄片样品的应用，例如，岩相光片分析，透射电镜分析，高温显微镜下组织分析等，需要制备1mm以下，甚至微米级的薄片试样。岩相光片的样品可以将样品通过树脂粘结在载玻片上，然后使用PetroThin进行精确的切割、研磨减薄。但如果样品需要独立成薄片，该怎么办呢？通过离子减薄虽然达到减薄的效果，但设备投入以及效率仍然有一定局限，所以作为前处理如何通过机械的方法制备一个独立，不带镶嵌树脂或载玻片且需要单面或双面抛光的分析样品，以下会为大家推荐一套制备小技巧。 难点：1）当样品薄到一定厚度，难以固定或夹持；2）样品边缘在磨抛时难以得到保护，对于脆性样品，容易在变薄后出现碎裂。 推荐制备方法：以制备需双面抛光的薄片试样为例，具体方法请见资料。