使用电子探针显微分析仪EPMA™(EPMA-8050G)对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示,可以在斜长石边缘发现微细的结构。利用EPMA的高分辨率面分析,能够为研究斑晶和岩浆相互作用的历史提供宝贵的信息。
No.P106News用户服务热线电话: 800-810-0439第一版发行行:2019年11月400-650-0439 ApplicationNews 电子探针显微分析仪 EPMA 斜长石中的微量元素面分析 KKa 15.0kV 3.0×2.3mm 500 um 500 um 500 um 图1斜长石的广域元素面分析 |斜长石外围元素分析 在岩石中斑晶的外围,一旦冷却并与另一岩浆接触,就会发生各种现象。该斜长石的外围放大后进行元素面分析。结果可以看出, Na 在外围减少, 而 Al、Ca和微量元素Mg、K和Fe则在外围增加(图2)。 此外,当外围进一步放大时,发现斜长石的主要元素(如Na、Al和 Ca)在K高的区域较小,而 Mg 和 Fe颗粒则大量聚集(图3)。 图3斜长石外围的元素面分析(更高倍数) 化合物相的相解析 另外,通过高倍率面分析测试发现,在外围具有高K的区域中,有许多包含Mg 和Fe的包体(最大为数百nm,最小为数十nm以下的细颗粒)聚集分布在这个区域(图4)。 因此,利用EPMA的高分辨率面分析,能够为研究斑晶和岩浆相互作用的历史提供宝贵的信息。 (counts) (counts 71 61 51 41 32 22 12 1um FeKa 15.0 kV×25000 1i um 图4由Mg 和Fe组成的包体面分析 岛津应用云 EPMA是岛津制作所株式会社在日本及其他国家的商标。 岛津企业管理(中国)有限公司岛津(香港)有限公司 ( 免责声明: ) *本资料未经许可不得擅自修改、转载、销售; *本资料中的所有信息仅供参考,不予任何保证。 http://www.shimadzu.com.cn 如有变动,恕不另行通知。 岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里,使用电子探针显微分析仪EPMA™(EPMA-8050G)对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示,可以在斜长石边缘发现微细的结构。
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岛津企业管理(中国)有限公司为您提供《斜长石中微量元素面分析检测方案(电子探针)》,该方案主要用于非金属矿产中微量元素面分析检测,参考标准--,《斜长石中微量元素面分析检测方案(电子探针)》用到的仪器有岛津场发射电子探针EPMA-8050G