高分子纳米线中直径约10nm颗粒的平面分布情况检测方案(扫描电镜)

Applicatio天美(中国)科学仪器有限公司t：010-64010651010-64060202 SU9000 在能谱分析方面的应用 以往的电镜在做能谱分析时，往往很难在较高的倍数下做 mapping ， 因为能谱仪采集的是特征射线，而X射线的出射范围普遍在微米级别，这就导致其空间分辨率较差，因而以往的电镜在分析一些纳米颗粒时就显得无能为力。 相较于传统的电镜， SU9000 在做能谱分析时有着一些独特的优势。尤其是在stem 条件下，样品普遍较薄，当样品厚度在纳米级别时，就避开了Ⅹ射线出射范围较大这一负面因素，使得其不仅可在高倍下表征图像的形貌，而且同时也可以在高倍下表征样品的组成。 以高分子纳米线为例，图(a)是高分子纳米线 DFSTEM 图像。通过标尺，可以确定该纳米线的直径大约为30nm， 还可以发现附着在纳米线上直径约10nm 的颗粒的平面分布情况，而图(b)图(c)则是对这一区域的能谱分析，通过 Mapping 图像可以判断出 DFSTEM 图像中观察到的颗粒的成分，并判断出其为功能性纳米材料氧化铁。 高分子纳米线的 DFstem 及能谱面分布图京市朝阳区天畅园7号楼(100107) e techcomp@techcomp.cn w www.techcomp.cn Techcomp天美 下图为银铜纳米颗粒的、DFSTEM 图像，从 mapping 图像可看出 ， DFSTEM 图像不仅能确认颗粒的位置，还能区分出银和铜。 DFSTEM 图像中亮度高地颗粒是银，亮度低的颗粒是铜。 依据以上结果，可判断出 DFSTEM 图像的Z对比度和 EDX mapping 图像是相关的。 Ag+Cu 纳米颗粒的 DFstem 像以及能谱 mapping像 以上可看出，使用 SU9000可对<10nm的颗粒做出 Mapping 图像。 相较于传统的电镜，SU9000在做能谱分析时有着一些独特的优势。尤其是在stem条件下，样品普遍较薄，当样品厚度在纳米级别时，就避开了X射线出射范围较大这一负面因素，使得其不仅可在高倍下表征图像的形貌，而且同时也可以在高倍下表征样品的组成。