Zeta电位测试可以解释膜的受污染行为并且可以最佳化膜的性能

Anton Paar：：SurPASS 应用报告A48IA37-Awww.anton-paar.com 使用Zeta电位监控膜的污染 膜污染：：： ：：：Zeta电位测试可以解释膜的受污染行为并且可以最佳化膜的性能 纳米过滤膜因为它们优异的分离性能最近受到很多的关注。它们的活性表面上有大约0.5-2nm的孔。纳滤膜在工业上有很多应用，不管是除去有机组分还是无机组分方面。 进料溶液中溶解的组分与膜表面的相互作用直接导致膜的污染。因为这个原因，过滤的阻力增加的同时滤通量随着时间降低。膜的污染造成更高的能量消耗，即更高的清洗频率和膜更短的寿命。严重的膜污染需要强的化学清洗或膜的置换。膜的污染研究帮助最佳化膜的表面并延长使用时间并最终降低消耗。 流动电流的测试可以揭示膜表面在过滤过程中被污染后的变化。复合聚合物薄膜通常显示一个高的负Zeta电位值。过滤后Zeta电位数值的降低意味着膜表面污染层的形成。 通过流动电流测试得到的Zeta 电位的PH值依赖性： 干净的纳滤膜和 经过24小时处理自来水后被污染的纳滤膜 Zeta电位可以帮助监控过滤时膜被污染的行为并最佳化膜的清洗效率。