伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试

上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 性能测试, 由于芯片在生产制造过程中, 有无数可能的引入缺陷的步骤, 即使是同一批晶圆和封装成品, 芯片也各有好坏, 所以需要进行筛选, 本文主要介绍上海伯东inTEST ATS-545在芯片可靠性测试上的应用.上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用的原因:类似于鸡蛋里挑石头, 把“石头”芯片丢掉. 可靠性测试, 芯片通过了功能与性能测试, 得到了好的芯片, 但是芯片会不会被冬天里最讨厌的静电弄坏, 在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作, 以及芯片能用一个月、一年还是十年等等, 这些都要通过可靠性测试进行评估. 因此需要在不同温度环境下对模拟芯片进行性能测试, 以确保能在综合复杂的环境中正常使用, 客户最终选择了ATS-545高低温冲击机进行测试.芯片可靠性测试方法:具体做法如下:1.将芯片放置于已做好的工装中；2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；3.将高低温冲击测试机ATS-545热流罩转到工装平台并下压固定；4.启动高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机加热至需要测试的温度点；5.启动芯片测试设备对芯片在-45度及84度下进行性能测试并记录数据；高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机在芯片可靠性测试的客户案例:成都某微电子, 通过伯东购买高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机伯东高低温冲击测试机ATS-545产品优势:1.温度范围 -75°C 至 +225°C2. ESD 防静电保护设计3.不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却.4.inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机ATS-545 技术参数:型号温度范围 °C* 变温速率输出气流量温度精度温度显示分辨率温度传感器ATS-545-75 至 + 225(50 HZ)-80 至 + 225(60 HZ)不需要LN2或LCO2冷却-55至 +125°C约 10 S 或更少+125至 -55°C约 10 S 或更少4 至 18 scfm1.9至 8.5 l/s±1℃通过美国NIST 校准±0.1℃T或K型热电偶* 一般测试环境下; 变温速率可调节美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 热销产品 Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机, ThermoSpot 台式高低温测试机, Thermochuck 以及 Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic.inTEST 高低温测试机广泛应用于安捷伦 Agilent, 台积电 TSMC, IBM 等半导体, PCB 电路板, 光通讯和电子行业.上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机， 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络 上海伯东: 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！