inTEST 热流仪光模块高低温冲击测试

光模块是一种比较灵敏的光学器件, 温度过高或者过低都会影响光模块的功能, 工作温度过高, 会引起发射光功率过大、接收信号错误、丢包等问题, 甚至直接烧坏光模块, 温度过低则会导致光纤模块的性能不稳定.因此, 光模块在出厂前会经过严格的高低温试验, 以确保光模块的品质合格.苏州某客户在进行通讯模块生产质检中, 采用上海伯东 inTEST 高低温测试机 ATS-545.inTEST ATS-545-M 高低温测试机技术参数：型号温度范围 °C* 变温速率输出气流量温度精度温度显示分辨率温度传感器ATS-545-M-75 至 + 225(50 HZ)-80 至 + 225(60 HZ)不需要LN2或LCO2冷却-55至 +125°C约 10 S 或更少+125至 -55°C约 10 S 或更少4 至 18 scfm1.9至 8.5 l/s±1℃通过美国NIST 校准±0.1℃T或K型热电偶* 一般测试环境下；变温速率可调节尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm重量: 净重 236 kg, 毛重 365 kg手臂延展最大 160 cm标准最高操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)标准最低操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)噪音 < 65 dBAinTEST 高低温测试机 ATS-545 测试过程:1. 客户自行设置流水线产品放置治具, 将 ATS-545 的玻璃罩扣在仿形治具上 ( 产品放在治具内 ）.2. 操作员设置需要测试的温度范围3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温,气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度, 高低温测试机 ATS-545 自带过热温度保护系统, 操作员也可根据实际需要设置高低温限制点.4. 通过持续运行高低温测试, 将通讯模块在不同设定温度下的运行频率, 产品工作状况等相关参数自动导出并存储用于后期产检分析以及产品工艺优化. 同时对批次的定向品质追溯也有较为确实的数据依据运行结果：inTEST 高低温测试机 ATS-545 为客户提供快速高低温冲击能力, 保证了良好的光模块测试环境.上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机， 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络 上海伯东: 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！