空气敏感样品中SEM 图像表征检测方案(扫描电镜)

PHENOMSCIENTIFIC飞 纳 电 镜 Phenom Ar-C 手套箱版扫描电镜 Phenom Argon-Compatible Desktop SEM (以下简称： Phenom Ar-C)是唯一一款可以放在氩气手套箱中安装并运行的扫描电镜，可以在手套箱内进行更安全的样品制备、显微观察和能谱分析，实现了直接在手套箱内对空气敏感样品的制备与研究，节省了时间和资源。 传统方法与 Phenom 手套箱版台式扫描电镜对比 Phenom Ar-C，标配四分割背散射电子检测器(BSD)，可获取清晰的 SEM 图像并提供成分衬度，可以选配二次电子探测器、完全集成的能谱(EDS)探测器。兼容 ProSuite 拓展软件，如ParticleMetric 颗粒统计分析系统、PoroMetric 孔径统计分析测量系统、FiberMetric 纤维统计分析测量系统和 3D 粗糙度重建系统，来协助进一步分析样品。 放置于于气手套箱中的 Phenom Ar-C 电池阴极颗粒的 SEM 图象 专用的元素识别软件(EID) Phenom Ar-C 可选配 EDS 探测器，借助X射线的元素分析，可以对材料进行深入研究。独特的镜筒设计，三合一工作距离， CeB6 灯丝可以产生较高的X 射线计数率，从而使得采集时间更短、工作流程更快。 专用的元素识别软件包(EID)控制完全集成的 EDS 能谱探测器，无需从外部软件包或计算机之间切换，使得能谱分析和扫描电镜拍照一样简单。实时 EDS 使得在成像模式下，只需点击便可以以即识别元素。可以选择高级分析模式，如 EDS 线扫和 EDS 快速面扫等。 操作界面简洁，新用户只需稍加培训，即可迅速上手 EID 软件包具有先进的谱峰分析及智能算法，优化了自动识别功能，可以识别周期表中硼(5)~镧(98)元素；同时允许在分析过程中随时进行手动调整。项目文件可以存储在本地或网络上，并可以随时进行离线分析。 对金属网内的颗粒进行 EDS 分析 自动化 Phenom Ar-C 可通过 PPI (Phenom 编程接口)进行标准访问，这是一种通过 Python脚本来运行 Phenom Ar-C 的方法。可以协助用户自动化分析颗粒、孔隙、纤维或大尺寸SEM 图像的重复性任务。如果需要，可以根据您的具体使用需求提供相应的技术支持。 CeB6 长寿命灯丝 CeB6(六硼化饰)长寿命灯丝具有以下几个优点。首先，与钨灯丝相比，提供的高亮度使用户更易于获得具有更多细节的高质量图像。第二，灯丝的使用寿命很长(单根灯丝寿命大于1500小时)，无需频繁拆开手套箱进行更换，加上定期的维护保养，这可以为用户带来长期的稳定体验。第三，通过 Phenom 智能软件可尽可能地延长使用寿命，当 Phenom Ar-C未使用时，灯丝进入休眠状态。 优中心样品杯 在许多的 SEM应用中，如果样品可以倾斜和旋转，有助于更深入地了解样品特性。优中心样品台就是考虑到这一点而专门开发的，该样品台可以轻松安全地从各个角度观察样品。 规格参数 分辨率：优于 8nm ● 电镜放大：最高20万倍 ● 抽真空时间：小于20秒 ● 加速电压：4.8kV-15kV 连续可调 ●探测器：背散射电子探测器，二次电子探测器(可选)，能谱探测器(可选) 关于作者 飞纳电竟 荷兰飞纳作为全球领先的桌面扫描电子显微镜供应商，专注于为亚微米级和纳米级应用的成像提供解决方案。飞纳台式扫描电镜被用于广泛的市场和应用领域，如材料科学、电子、纳米颗粒、生物医学、纺织纤维和地质科学等。 Email： info@phenom-china.comTEL： ww.phenom-china.com Email：into(apnenom-china.comwww.pnenom-china.comIEL：U Phenom Argon-Compatible Desktop SEM（以下简称：Phenom Ar-C）是唯一一款可以放在氩气手套箱中安装并运行的扫描电镜，可以在手套箱内进行更安全的样品制备、显微观察和能谱分析，实现了直接在手套箱内对空气敏感样品的制备与研究，节省了时间和资源。传统方法与 Phenom 手套箱版台式扫描电镜对比Phenom Ar-C，标配四分割背散射电子检测器（BSD），可获取清晰的 SEM 图像并提供成分衬度，可以选配二次电子探测器、完全集成的能谱（EDS）探测器。兼容 ProSuite 拓展软件，如 ParticleMetric 颗粒统计分析系统、PoroMetric 孔径统计分析测量系统、FiberMetric 纤维统计分析测量系统和 3D 粗糙度重建系统，来协助进一步分析样品。