特种陶瓷中Si和Zr检测方案(ICP-AES)

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检测样品: 航空
检测项目: Si和Zr
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发布时间: 2020-05-30
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杭州谱育科技发展有限公司

白金7年

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湿法消解和微波消解易造成硅的损失,且HF的引入会提高对仪器的成本,不适合于陶瓷样品中硅的测量,本方法采用碱熔法消解特种陶瓷样品,并用电感耦合等离子体发射光谱分析特种陶瓷中硅和锆的含量,方法精密度高,检出限低,硅的加标回收率达98.97%,是一种简单易操作、低成本的测量方法。

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ApplicationDetermination of Si and Zr in Special Ceramics by EXPEC 6000 Application 应用中心 技术特点 ● 碱熔法 ● 加标回收 和传统陶瓷不同,特种陶瓷一般以氧化物、氮化物、硅化物、硼化物、碳化物等为主要原料。其化学组成、形态、粒度和分布可以精确控制,具有高硬度、耐腐蚀等特殊性能,在航空、医疗等行业应用较为广泛,但是特种陶瓷的组份不同,性能也会千差万别,因此,研究特种陶瓷中各组分的含量具有重要意义。 特种陶瓷具有高硬度、耐腐蚀等特殊性能,因此消解比较困难,常见的消解方法如湿法消解和微波消解虽然能使样品完全消解,但这些方法消解陶瓷样品时必须用到氢氟酸或四氟硼酸,形成的 SiF4易挥发,造成硅的损失,不适合用于陶瓷中硅的测量。本方法采用碱熔法消解样品,成功避免了硅的损失,测量了特种陶瓷中硅。 准确称取一定量(精确至 0.0001g)特种陶瓷样品于埚中,加入一定量的碱,混匀。加盖置于马弗炉中灼烧一段时间。冷却后取出,用热水将样品溶出,转移至聚四氟乙烯烧杯中,缓慢滴加浓硝酸至溶液澄清透明,随后将样品稀释至合适的浓度,待测。 EXPEC 6000测定特种陶瓷样品中Si 和Zr 聚光科技(杭州)股份有限公司 仪器配置 仪器:EXPEC 6000等离子体原子发射光谱仪;分析参数见表1。 表1EXPEC 6000的仪器条件 参 数 设置 RF 功率 1150 w 观测方式 水平 冷却气 12 L/min 辅助气 1.00L/min 雾化气 0.60 L/min 分析泵速 50rpm 冲洗泵速 100 rpm 分析时间 长波10s, 短波15s 智能积分 标准溶液配置 被测元素标准溶液配制梯度见表2。线性相关系数大于 0.999. 表2各元素的标准溶度配制梯度 溶液编号 元素 名称 标准溶液 浓度(pg/L) 1 Si、Zr 0/1.0/2.0/5.0 检出限 按样品空白连续11次测定的3倍SD得到 各元素检出限,如表3所示。 表3被测元素的检出限 元素波长(nm) 检出限(Mg/L) Si288.158 0.0069 Zr 327.306 0.0006 测定结果 采用EXPEC 6000 测定了特种陶瓷样品中硅和锆,测定结果见表4. 加标回收率 样品消解前加入一定量的高纯单晶硅,对特种陶瓷样品中硅进行加标回收试验,加标回收测 结论 湿法消解和微波消解易造成硅的损失,且HF 的引入会提高对仪器的成本,不适合于陶瓷样品中硅的测量,本方法采用碱熔法消解特种陶瓷样品,并用电感耦合等离子体发射光谱分析特种陶瓷中硅和锆的含量,方法精密度高,检出限低,硅的加标回收率达98.97%,是一种简单易操作、低成本的测量方法。 表4测量结果与方法的精密度 元素 样品编号 测量结果(%) 平均值(%) 相对标准偏差 (RSD,%) Si 1 25.7 25.63 1.58 2 26.0 3 25.2 Zr 1 9.00 9.01 1.28 2 9.13 3 8.90 标5硅的加标回收率 样品编号 元素 加标前 (%) 加标量 (%) 加标后 (%) 回收率 (%) 1# Si 25.7 20.00 45.50 98.97 杭州谱育科技发展有限公司 杭州市临安区青山湖街道科技大道2466号 邮编:310052 电话:0571-85012185 网址:www.puyukeji .cn 特种陶瓷具有高硬度、耐腐蚀等特殊性能,因此消解比较困难,常见的消解方法如湿法消解和微波消解虽然能使样品完全消解,但这些方法消解陶瓷样品时必须用到氢氟酸或四氟硼酸,形成的SiF4易挥发,造成硅的损失,不适合用于陶瓷中硅的测量。本方法采用碱熔法消解样品,成功避免了硅的损失,测量了特种陶瓷中硅。
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杭州谱育科技发展有限公司为您提供《特种陶瓷中Si和Zr检测方案(ICP-AES)》,该方案主要用于航空中Si和Zr检测,参考标准--,《特种陶瓷中Si和Zr检测方案(ICP-AES)》用到的仪器有谱育科技 SPEC Pro 6000 防护型电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)