材料中机械测量检测方案(扫描探针)

OXFORDINSTRUMENT SThe Business ofScience"C Oxford Instruments 2019 用于纳米机械测量的原子力显微镜 纳米级的机械性能是许多应用中考量的一个关键因素，而原子力显微镜则是能够测量这些性能的工具之一。利用 Asylum Research 的 NanomechPro"工具包，你可以测量任何材料(从细胞到陶瓷)的纳米级机械特性。这些技术能够精确地评估各种纳米级机械行为，包括弹性、粘性、附着力和硬度。NanomechPro"工具包的多种技术可以为不同的应用提供更大的灵活性，并通过结果比对实现更深入的理解。此外，利用NanomechPro工具包的独有模式，还可以对更多特性进行更快速的测量。 NanomechPro工具包支持 CypherM 和MFP-3DTM 系列原子力显微镜的所有功能。 力曲线/力曲线阵列 利用经典的准静态法，使用力与距离曲线来提供量化的样品信息，例如：模量、硬度和附着力 快速力成像(FFM) 力与距离成像模式，像素率可达300-1000 Hz， 并提供模量、附着力、可塑性和其他特性的表征 调幅-调频粘弹性成像(AM-FM) 量化的双峰轻敲模式，测量探针的针尖与样品的接触刚度、损耗因数，并使用赫兹模型来测量弹性模量(E’) 接触共振粘弹性成像(CR-) 接触模式成像，以测量存储模量(E')和损失模量(E”) Dual AC 成像 量化的双峰轻敲模式，根据材料的刚度和粘弹性提供对比 损耗角正切成像 轻敲模式成像，以储能耗散的形式，将相位数据量化，也被称为“tan1(8” 力调制成像 量化的接触模式技术，可测量样品的变形，并提供耗散 材料在纳米尺度上的力学性能是其在生物学，工业以及结构材料中应用的基础。原子力显微镜探针和样品的相互作用过程中受多种力的影响-弹性力，粘性力，引力，范德华力等等。因此非常有必要利用不同的测试方式对材料进行可重复的精确测试。目前Asylum Research 原子力显微镜的NanomechProTM工具箱为研究者提供了多种有效方法对纳米力学性能进行研究：这其中就包括独有专利的AM-FM Viscoelastic Mapping 模式和 Contact Resonance Viscoelastic Mapping 模式。这两种模式中只需一次扫描就能同时获得样品的弹性模量和损耗因子(dissipation)。此外在Cypher原子力显微镜系统中，通过低噪音的小型探针的使用.系统的力学噪音水平和测试速度都达到了前所未有的高度。