汽车镀层中厚度分析检测方案(能散型XRF)

X射线荧光分析仪测量镀层厚度 近年来，汽车工业发展迅速，电力行业也备受关注。汽车零部件作为支撑汽车产业快速稳定发展的基础，发展我国汽车零部件产业具有重大意义，而电镀技术是汽车零部件质量品质保证的常用技术。 电力行业中高压隔离开关应用范围相当的广泛，主要用于高压线路无负载换接、断路器等电气设备与高压线路之间的电气隔离，其镀层厚度会极大的影响开关导电性和使用寿命。因此，对相关部件表面镀层厚度的测量就显得尤为必要。 案例一： 通常在汽车零部件表面进行电镀处理，以提高汽车部件材料长期运行的可靠性、稳定性和耐蚀性。但是，如果电镀层太厚，增加成本；太薄无法达到产品应用质量要求。因此，对电镀层厚度的控制尤为重要。 氧化锆是汽车行业常用的一种保护膜，利用奥林巴斯元素分析仪滤膜模式分析铁基上镀氧化锆涂层的厚度，各个数据点线性相关性非常好，几乎在同一条直线上。优化后检测的数据如下表，其其试结果与标准值相对误差小于3%。 XRF GE 5-6 199 201.43 1.22 GE 4-6 180 177.2 -1.55 GE 3-6 117 113.6 -2.91 GE 2-6 80 77.76 -2.8 GE 1-6 45 46.1 2.44 案例二： 对于像高压隔离开关常年暴露在大气环境条件下使用的设备，通常在表面电 镀一层银以保持开关良好的导电性，而电镀银的厚度对开关使用寿命影响巨大。利用奥林巴斯元素分析仪的测厚模式，分析一系列铜镀银样品，所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996，线性相关性关常好。当银厚度为 1-30 Hm范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 Hm，30-60 Hm 范围内平均误差为1.3Hm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 Hm。 编号 镀银厚度(pm) XRF测量值 不确定度 相对误差 1 0.91 0.954 0.015 0.044 2 5.08 5.16 0.03 0.08 3 10.62 10.28 0.06 0.34 4 15.65 15.2 0.08 0.45 5 21.49 20.18 0.11 1.31 6* 26.49 26.47 0.16 0.02 7 29.59 27.47 0.16 2.12 8* 34.59 35.5 02 0.91 9* 42.09 41.6 0.3 0.49 10* 47.09 47.3 0.4 0.21 11* 54.59 512 0.5 3.39 12* 59.59 58.7 0.6 0.89 *无证样本 目前，奥林巴斯 VANTA 手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料，基体可以是任何类型的材料，不局限于金属。因此，在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。 Vanta 新型 Vanta 系列仪器性能改进：坚固耐用，高效多产 . 仪器配备 SD 存储卡 ● 可使用 WI-FI， 蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输 可使用 USB闪存盘进行方便快速的数据传输 ● Axon 技术提高分析结果的精准性 ● IP 65/64方防尘防水 ● 坠落测试(MIL-STD-810G) . 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护 奥林巴斯手持式×射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内的很多元素进行快速无损分析，可检测出的含量从百万分率到100%。分析仪在检测速度、检出限及可检元素的范围方面具有优质性能。这款分析仪的外壳符合工业设计标准，极为坚固耐用，可以在恶劣的环境中正常工作。 近年来，汽车工业发展迅速，电力行业也备受关注。汽车零部件作为支撑汽车产业快速稳定发展的基础，发展我国汽车零部件产业具有重大意义，而电镀技术是汽车零部件质量品质保证的常用技术。电力行业中高压隔离开关应用范围相当的广泛，主要用于高压线路无负载换接、断路器等电气设备与高压线路之间的电气隔离，其镀层厚度会极大的影响开关导电性和使用寿命。因此，对相关部件表面镀层厚度的测量就显得尤为必要。 案例一：通常在汽车零部件表面进行电镀处理，以提高汽车部件材料长期运行的可靠性、稳定性和耐蚀性。但是，如果电镀层太厚，增加成本；太薄无法达到产品应用质量要求。因此，对电镀层厚度的控制尤为重要。氧化锆是汽车行业常用的一种保护膜，利用奥林巴斯元素分析仪滤膜模式分析铁基上镀氧化锆涂层的厚度，各个数据点线性相关性非常好，几乎在同一条直线上。优化后检测的数据如下表，其测试结果与标准值相对误差小于3%。案例二：对于像高压隔离开关常年暴露在大气环境条件下使用的设备，通常在表面电镀一层银以保持开关良好的导电性，而电镀银的厚度对开关使用寿命影响巨大。利用奥林巴斯元素分析仪的测厚模式，分析一系列铜镀银样品，所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996，线性相关性非常好。当银厚度为1-30 μm 范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 μm， 30-60 μm 范围内平均误差为 1.3 μm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 μm。 目前，奥林巴斯VANTATM手持式光谱分析仪（HHXRF）的镀层模式能够分析多层镀层材料，基体可以是任何类型的材料，不局限于金属。因此，在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。Vanta新型Vanta系列仪器性能改进：坚固耐用，高效多产仪器配备SD存储卡可使用WI-FI，蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输可使用USB闪存盘进行方便快速的数据传输Axon技术提高分析结果的精准性IP 65/64—防尘防水坠落测试(MIL-STD-810G) 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护    奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内的很多元素进行快速无损分析，可检测出的含量从百万分率到100%。分析仪在检测速度、检出限及可检元素的范围方面具有优质性能。这款分析仪的外壳符合工业设计标准，极为坚固耐用，可以在恶劣的环境中正常工作。