Nano-SIMS块状样品前处理流程

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发布时间: 2024-10-08
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广州领拓贸易有限公司

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本文就直径约10mm以内不规则的岩石样品,提供了Nano-SIMS前处理的流程,以供参考。

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Nano-SIMS,即纳米离子探针技术,是具备较高的质量分辨、灵敏度和分析精度的微区分析技术,能够在纳米级尺度上提供元素和同位素的定量信息。这项技术被广泛应用于地球科学、材料科学、生物科学和环境科学等多个领域。为了获得准确、可靠的高质量分析数据,纳米离子探针对样品有严格要求:1) 样品应尽可能平整,块状样品应进行精细抛光;2) 样品的尺寸需符合Nano-SIMS分析舱的要求,通常可使用的样品座可容纳不同尺寸的样品,如10mm(推荐)、12.7mm、25.4mm等,厚度应控制在4mm以内;3) 样品应具有良好的导电性,对于导电性不强的样品,应镀上一层薄薄的导电层(如Au、C、Pd等)以去除多余的电荷;4) 样品不应含有任何挥发性物质,以确保在高真空条件下进行分析。 本文就直径约10mm以内不规则的岩石样品,提供了Nano-SIMS前处理的流程,以供参考。
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广州领拓贸易有限公司为您提供《Nano-SIMS块状样品前处理流程》,该方案主要用于其他中/检测,参考标准--,《Nano-SIMS块状样品前处理流程》用到的仪器有徕卡全自动三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X、标乐 EcoMet30 单/双盘手动自动磨抛机