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使用配备固体自动进样器的 Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS)
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前言高质量多层光学镀膜的制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学性能。传统方法通过两次单独的测量来实现：垂直入射透射率 (T)，通常在分光光度计的样品室内进行测量，以及近法线反射率 (R) 测量，这需要使用单独的反射附件。由于在 R 和 T 测量之间的仪器配置变化期间样品重新定位，因此使用这种方法很难确保两次测量都在样品上的同一部位。而 Cary 7000 UMS 解决了这一难题，可在样品表面完全的相同点处测量多角度透射率和绝对反射率，无需重新定位样品。此方法可以避免采用不同 %R 和 %T 测量技术时通常由入射角 (AOI) 细微变化引起的系统误差。
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产品配置单
安捷伦科技(中国)有限公司为您提供《高通量光学组件测试》，该方案主要用于无机非金属基复合材料中/检测，参考标准--，《高通量光学组件测试》用到的仪器有Agilent Cary 7000 全能型分光光度计（UMS）
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