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在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至 100 μs，TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍，可实现瞬时信号的快速测量。
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使用Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪对纳米材料进行单颗粒分析 摘要： 在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个 NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至100us， TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA模式的整体采集速度比 7700x快30倍，可实现瞬时信号的快速测量。 点击下列图标获取免费资料 Agilent Technologies
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安捷伦科技(中国)有限公司为您提供《纳米材料中单颗粒检测方案(等离子体质谱)》，该方案主要用于纳米材料中单颗粒检测，参考标准--，《纳米材料中单颗粒检测方案(等离子体质谱)》用到的仪器有Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪
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