半导体行业高低温老化性能测试方法:原理:高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。还可以对新开发的半导体器件进行可靠性测试,通过控制恒温高低温条件,测试其在恶劣环境下的性能稳定性。这种测试可以提早发现新器件的问题和不足之处,以便进行调整。还可以对半导体器件的质量和可靠性进行评估和证明,以保证它们能够在各种环境下稳定地运行。测试方法:1. 高温储存测试条件:85℃±5℃持续时间:1000h2. 低温储存测试条件:-40℃±5℃持续时间:1000h3. 温度循环测试条件:-40℃~85℃持续时间:200个循环4. 湿热循环测试条件:40℃~85℃,RH=85%持续时间:10个循环5. 高温高湿寿命测试测试条件:85℃、85%RH持续时间:1000h