冷热冲击试验箱测试电子元器件方法

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检测样品: 电子元器件产品
检测项目: 测试电子元器件方法
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发布时间: 2023-02-02
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上海荣计达仪器科技有限公司

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实际上冷热冲击试验箱作为进行冷热冲击试验的一种工具,应用在产品研制的不同阶段时的目的是不同的: 1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷; 2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据; 3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。

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冷热冲击试验箱测试电子元器件方法一、冷热冲击试验的目的  实际上冷热冲击试验箱作为进行冷热冲击试验的一种工具,应用在产品研制的不同阶段时的目的是不同的:  1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;  2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;  3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。二、冷热冲击试验方法  冷热冲击试验(气体)  试验设备:两箱或三箱式冷热冲击箱  根据IEC和国家标准,以空气为介质,进行试验室环境温度、温度上限、温度下限、暴露持续续时间、转换时间或变化速率、试验循环数等试验参数的设置  冷热冲击试验(液体)  适用设备:液槽冲击箱  此试验来源于GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法》中的方法107:温度冲击试验 ,实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。 
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