德国弗莱贝格电池片PID测试仪PIDcon bifacial技术

自2010年以来，潜在的诱导退化被认为是导致模块故障的主要原因之一。利用弗劳恩霍夫CSP开发的新技术，以及弗莱贝格仪器公司的台式工具PIDcon，可以对太阳能电池和微型组件的PID敏感性进行测试，现在已经投入市场。 了解更多关于PID的原因以及如何研究太阳能电池、微型模块和封装材料的敏感性。PID-s的物理性质电势诱导退化（PID）是在晶体硅组件中观察到的较高危险的退化现象之一。在了解分流型PID（PID-s）的基本机制方面已经取得了很大进展。PID-s的物理性质在现场，模块中的前玻璃表面和太阳能电池之间可能会出现较大的电位，硅太阳能电池的p-n结会发生分流，从而导致电阻和功率输出下降。以下模型是由[1]提出的：模块中存在的高场强导致Na+漂移通过SiNx层。钠离子在SiNx/Si界面（SiOx）横向扩散，并装饰了堆叠故障。pn结通过高度装饰的堆积断层的缺陷水平被分流（过程1），另外，由于耗尽区的缺陷状态的重组过程，J02增加（过程2）。请注意，Na离子应该是来自Si表面而不是玻璃。因此，模块的易感性主要取决于SiNx层以及玻璃和EVA箔的电阻率。参考文献：[1] V. Naumann et al., The role of stacking faults for the formation of shunts during potential induced degradation (PID) of crystalline Si solar cells, Phys. Stat. Solidi RRL 7, No. 5 (2013) 315-318德国弗莱贝格电池片 PID 测试仪 PIDcon bifacial 技术 下面内容参考： h ttps：//www.freibergins tr uments.com/pid/technology.html 自2010年以来，潜在的诱导退化被认为是导致模块故障的主要原因之一。利用弗劳恩霍夫 CSP 开发的新技术，以及弗莱贝格仪器公司的台式工具 PIDcon，可以对太阳能电池和微型 组件的 PID 敏感性进行测试，现在已经投入市场。 了解更多关于 PID 的原因以及如何研究太阳能电池、微型模块和封装材料的敏感性。 PID-s的物理性质 电势诱导退化 (PID)是在晶体硅组件中观察到的最危险的退化现象之一。在了解分流型 PID (PID-s)的基本机制方面已经取得了很大进展。 PID-s的物理性质 在现场，模块中的前玻璃表面和太阳能电池之间可能会出现较大的电位，硅太阳能电池的p-n结会发生分流，从而导致电阻和功率输出下降。 以下模型是由[1]提出的： 模块中存在的高场强导致 Na+漂移通过 SiNx 层。钠离子在 SiNx/Si 界面(SiOx) 横向扩散，并装饰了堆叠故障。pn结通过高度装饰的堆积断层的缺陷水平被分流(过程1)，另外，由 于耗尽区的缺陷状态的重组过程，J02增加(过程2)。请注意， Na 离子应该是来自 Si 表面 而不是玻璃。 因此，模块的易感性主要取决于 SiNx 层以及玻璃和 EVA箔的电阻率。 参考文献： [1]V.Naumann et al.， The role of stacking faults for the formation of shunts during potential induced degradation (PID) of crystalline Si solar cells， Phys. Stat. Solidi RRL 7， No. 5 (2013)315-318