Xenocs小角X射线散射仪检测可见光如何影响有机半导体的形态

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检测样品: 新能源汽车
检测项目: 有机半导体
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发布时间: 2023-05-04
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赛诺普(苏州)科学仪器有限公司

白金3年

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有机半导体(OSCs)是有前景的前沿材料,因为它们有许多吸引人的特性,包括轻量、柔性和易加工(低成本生产、低温加工)[1]。因此,它们在有机发光二极管、有机晶体管、传感器和生物传感器、薄膜电池或有机光伏(OPVs)等各种应用中具有广阔的应用前景[2]。然而,自身的局限性使它们目前无法得到大规模的应用。

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用GIWAXS研究光诱导有机半导体的形态变化‍‍‍GIWAXS是一种非常有效的方法,通常用于确定沉积在基材上的薄膜中聚合物链的排列(主链取向)。图2(a)描述了在二维GIWAXS中可以观察到的edge-on和face-on图案共存的常见模式。在edge-on的方向中,链的主干与π-π堆积方向一起平行于基底,而侧链则垂直于基底。另外,在face-on的方向,π-π堆积方向垂直于基底,侧链和主链都在基底的平面上排列。这些不同的方向对电性能有影响(这一点会进一步讨论),并且在设计和优化基于P3HT的设备时要考虑到这一点[4]。例如,在本研究中记录的二维GIWAXS图谱如图2(b, c)所示,表明P3HT主要表现为edge-on的取向,并有一定程度的取向分布[3]。‍‍‍‍
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赛诺普(苏州)科学仪器有限公司为您提供《Xenocs小角X射线散射仪检测可见光如何影响有机半导体的形态》,该方案主要用于新能源汽车中有机半导体检测,参考标准--,《Xenocs小角X射线散射仪检测可见光如何影响有机半导体的形态》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Xeuss 3.0 UHR、赛诺普 GISAXS样品架