菱镁矿，镁砂中成分分析检测方案(能散型XRF)

安科慧生|掌握XRF硬核技术 菱镁矿与镁砂中元素含量测定-菱镁矿成分分析 单波长X射线荧光光谱仪与快速基本参数法 一、概述 菱镁矿是镁的硅酸盐矿物，是制造含镁耐火材料的最主要的天然矿物原料。全世界菱镁矿储量约为120亿吨，其中中国大约为50亿吨，占比十分庞大。 菱镁矿的化学成为为 MgCO3， 其它氧化物 CaO、SiO2、Fe203、AI2O3等为 杂质，当菱镁矿中杂值含量大时，会严重降低其耐火性能，并且会给生产工艺造成困难，因此分析杂质元素含量尤为重要。 安科慧生研制的单波长X射线荧光光谱仪 MERAK-SC 与快速基本参数法(FastFP)， 同步分析菱镁矿各元素成分含量，对各个元素氧化物的分析精密度满足《GB/T 34332-2017 菱镁矿与白云石耐火制品化学分析方法》要求，同时具有样品制备简单、分析速度快、分析成本低等优势，也可延伸到镁砂各个元素成分分析。 单波长X射线荧光光谱仪 MERAK-SC 二、测试步骤 样品采用压片法处理，具体流程见下下： 1、粉碎研磨 2、压片 3、测试 将菱镁矿矿石样品粉碎至100目以上 取4g样品，用压片机25MPa 制成样品压片 将样品压片放入样品杯，在MERAK-SC 上进行测试，三分钟得到测试结果 三、技术原理 1)单波长聚焦激发技术 单波长X【射线荧光光谱仪MERAK-SC 将全聚焦型双曲面弯晶单色化技术与二次靶完美结合，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪原理 中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，弥补了传统能量色散X 射线荧光光谱仪对轻元素灵敏度不足，单波长X射线荧光光谱仪实现对微量和痕量元素的检测分析。(发明专利：201510970857.0) 2)快速基本参数法 基本参数法(FP)是 XRF定量分析的一项前沿技术，其解决了 XRF 基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠 缺标准样品情况下的样品元素定量分析。北京安科慧生研发的快速基本参数法(FastFP2.0)不仅采用基本参数库，同时建立系列的数学模型，从而使得基本参数法提升到定量分析水平，在样品适应性、定量精度、扩展性等方面处于领先水平。 四、性能数据 1)线性 快速基本参数法(Fast FP 2.0)通过全谱拟合和理论计算得到各元素(或氧化物)含量值，通过对菱镁矿标准样品的 Fast FP 计算值与标准含量值之间建立校正曲线。下述各目标元素(或氧化物)线性相关性图表，，可见线性相关系数R²达到0.99~0.999 之间，E良好的线性关系是定量准确性的保证。 F(x)=-0.0021%+0.994294*xR2=0.99832. SEE =0.0384% GWB-07867 B-07866 WB-07868 07855 ·点回卦线 F()=-0.0098%+0.914396*xR2 0.99957， SEE =0.0241% 7867 WB-07868 3-07861 GWB-07866 ·点0曲 13 4.1 2)重复性 使用菱镁矿 28727-2014-magnesite3#号标准样品重复测试7次，得到重复性结果如下表： 元素 SD(%) MgO 0.036 CaO 0.002 Fe203 0.001 SiO2 0.008 A1203 0.002 五、仪器特点 )稳定开机30分钟，即可得到稳定分析数据，连续测试、日间测试、长期测试均具有优良的重复性； )精确基于基本参数法的软件谱图分析计算，消除样品基体差异、谱线干扰带来的分析误差，仅需少数标准(定值)样品，即可得到准确定量结果； 低 低耗无需消耗气体、液氮制冷、真空等，长期运行低故障率； 快速3分钟即可完成单个样品分析； 同步同步分析菱镁矿和镁砂中 Na-Zn 十几种元素及氧化物含量； 原创声明：本文除注明引用之外均属于安科慧生(Ancoren)公司原创，若有转发和引用，必须注明出处，否则可能涉及侵权行为! 更详细技术信息，请咨询安科慧生工作人员! 北京安科慧生科技有限公司Beijing Ancoren Science&Technology Co.，ltd 菱镁矿与镁砂中元素含量测定-菱镁矿成分分析单波长X射线荧光光谱仪与快速基本参数法一、概述菱镁矿是镁的硅酸盐矿物，是制造含镁耐火材料的最主要的天然矿物原料。全世界菱镁矿储量约为120亿吨，其中中国大约为50亿吨，占比十分庞大。菱镁矿的化学成为为MgCO3，其它氧化物CaO、SiO2、Fe2O3、Al2O3等为杂质，当菱镁矿中杂值含量大时，会严重降低其耐火性能，并且会给生产工艺造成困难，因此分析杂质元素含量尤为重要。安科慧生研制的单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC与快速基本参数法（Fast FP），同步分析菱镁矿各元素成分含量，对各个元素氧化物的分析精密度满足《GB/T 34332-2017 菱镁矿与白云石耐火制品化学分析方法》要求，同时具有样品制备简单、分析速度快、分析成本低等优势，也可延伸到镁砂各个元素成分分析。单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC二、测试步骤样品采用压片法处理，具体流程见下图：三、技术原理1)     单波长聚焦激发技术单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC将全聚焦型双曲面弯晶单色化技术与二次靶完美结合，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，弥补了传统能量色散X射线荧光光谱仪对轻元素灵敏度不足，单波长X射线荧光光谱仪实现对微量和痕量元素的检测分析。（发明专利：201510970857.0）2)     快速基本参数法基本参数法(FP)是XRF定量分析的一项前沿技术，其解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。北京安科慧生研发的快速基本参数法（Fast FP2.0）不仅采用基本参数库，同时建立系列的数学模型，从而使得基本参数法提升到定量分析水平，在样品适应性、定量精度、扩展性等方面处于先进水平。 四、性能数据1)       线性快速基本参数法(Fast FP 2.0)通过全谱拟合和理论计算得到各元素（或氧化物）含量值，通过对菱镁矿标准样品的Fast FP计算值与标准含量值之间建立校正曲线。下述各目标元素（或氧化物）线性相关性图表，可见线性相关系数R²达到0.99~0.999之间，良好的线性关系是定量准确性的保证。2)       重复性使用菱镁矿28727-2014-magnesite3#号标准样品重复测试7次，得到重复性结果如下表：元素SD(%)MgO0.036CaO0.002Fe2O30.001SiO20.008Al2O30.002五、仪器特点 稳定开机30分钟，即可得到稳定分析数据，连续测试、日间测试、长期测试均具有优良的重复性； 精确基于基本参数法的软件谱图分析计算，消除样品基体差异、谱线干扰带来的分析误差，仅需少数标准（定值）样品，即可得到准确定量结果； 低耗无需消耗气体、液氮制冷、真空等，长期运行低故障率； 快速3分钟即可完成单个样品分析； 同步同步分析菱镁矿和镁砂中Na-Zn十几种元素及氧化物含量；  原创声明：本文除注明引用之外均属于安科慧生（Ancoren）公司原创，若有转发和引用，必须注明出处，否则可能涉及侵权行为！更详细技术信息，请咨询安科慧生工作人员！