半导体中高温试验检测方案(高低温试验箱)

半导体高低温试验的测试方法 高低温试验箱为用户检验、检测提供一个模拟环境，可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件或相关行业的实验部门提供一个模拟环境，为测试数据的准确性和一致性(可重复)提供必备条件。该产品具有简单的操作性能和可靠的设备性能，先进便捷操作的计测装置，结构一体化程度高，科学的空气流通设计，使室内温湿度均匀，避免任何死角；完备的安全保护装置，避免了任何可能发生的安全隐患，保证设备的长期可靠性. 高低温试验箱适用于对电工、电子及其他产品、零部件材料进行高温试验的试验箱。 试验方法 主要测试仪器与装置 1风速仪 感应量应不低于0.05 m/s 的风速仪。 2温度计 采用铂电阻、热电偶或其他类似温度传感器组成的并满足下列要求的测温系统：传感器时间常数：20 s~40 s. 测温系统的扩展不确定度(é=2)：不大于0.4℃。 3 表面温度计 采用铂电阻或其他类似传感器组成并满足下列要求的测温系统。传感器时间常数：20s~40s。测温系统扩展不确定度(é一2)：不大于1.o℃. 测试条件 1测试条件应满足 1.1环境条件 a)温度5℃~40℃； b)相对湿度；不大于 85%RH；c)大气压 80 kPa 106 kPa；d 周围无强烈振动； e)无阳光直接照射或其他热源直接辐射； f)周围无强烈气流：当周围空气需强制流动时，气流不应直接吹到箱体上；g)周围无强电磁场影响； h)周围无高浓度粉尘及腐蚀性物质。 1.2供电条件 a)交流电压220V士22V 或380V士38V；b)频率 50 Hz 士0.5Hz。 2测试在空载条件下进行。 3温度测试方法 3.1测试点的位置及数最 3.1.1在试验箱工作室内定出上、中、7下三个测试面，简称上、中、下层。上层与工作室顶面的距离为工作室高度的 1/10，中层通过工作室几何中心，下层在最低层样品架上方10 mm 处。 注：工作室具有斜顶或尖顶时，顶面为通过斜面与垂直壁面交线的假想水平面。 3.1.2测试点位于三个测试面上，中心测试点位于工作室几何中心，其余测试点到工作室壁的距离为各自边长的1/10。但对工作室容积不大于1m3的试验箱，该距离不小于50 mm.. 3.1.3测试点的数量与工作室容积大小的关系为： 工作室容积不大于2m3 时，测试点为9个 工作室容积大于2m3时，测试点为15个 )当工作室容积大于50 m3时，应适当增加温度测试点的数量。 测试程序 1在试验箱温度可调范围内，选取最高标称温度或用户要求的温度作为测试温度。 2在工作空间中心测试点的温度达到测试温度并稳定 2h，每隔1 min测试所有测试点的温度1次，在30 min 内共测30次。 东莞皓天 高低温试验箱为用户检验、检测提供一个模拟环境，可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件或相关行业的实验部门提供一个模拟环境，为测试数据的准确性和一致性（可重复）提供必备条件。该产品具有简单的操作性能和可靠的设备性能，先进便捷操作的计测装置，结构一体化程度高，科学的空气流通设计，使室内温湿度均匀，避免任何死角；完备的安全保护装置，避免了任何可能发生的安全隐患，保证设备的长期可靠性.温度测试方法3.1测试点的位置及数最3.1.1在试验箱工作室内定出上、中、下三个测试面,简称上、中、下层。上层与工作室顶面的距离为工作室高度的1/10,中层通过工作室几何中心，下层在低层样品架上方10 mm处。注:工作室具有斜顶或尖顶时,顶面为通过斜面与垂直壁面交线的假想水平面。3.1.2测试点位于三个测试面上,中心测试点位于工作室几何中心,其余测试点到工作室壁的距离为各自边长的1/10。但对工作室容积不大于1 m3的试验箱,该距离不小于50 mm..3.1.3测试点的数量与工作室容积大小的关系为:a) 工作室容积不大于2m3时,测试点为9个b) 工作室容积大于2 m3时,测试点为15个c) )当工作室容积大于50 m3时,应适当增加温度测试点的数量。