LED,OLED面板行业中膜厚及折射率测量检测方案(椭偏仪)

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检测样品: 照明产品
检测项目: 膜厚及折射率测量
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发布时间: 2020-06-23
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武汉颐光科技有限公司

金牌5年

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通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数,确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制,可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中,大幅度降低企业生产成本并提高生产效率,确保产品的市场竞争力,实现企业价值最大化。

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行业背景 2009年-2014年,全球平板显示行业收入从921.12亿美元增长至1,310亿美元,产值规模不断扩大,已经成为产值超过千亿美元的成熟产业。全球平板显示产业经过快速发展阶段后,预计随后近十年,全球平板显示市场的增长将趋于平缓。经过近几年的技术发展, OLED 屏幕终于成了业界追逐的新焦点。 OLED 材料具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、无视角限制、响应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和 3D 显示等诸多优点,因此被业界认为是最有发展前景的新型显示技术之一。 OLED 目前主要应用在手机,但由于电视尺寸大部分集中在大尺寸上,因此成为 OLED 未来产值增长最主要的驱动力。 面临挑战 OLED 技术目前相对还不成熟,存在拼缝、成品率、成本高等问题,所以短期内对 LED 显示屏不构成威胁。这样势必加大 OLED 电致发光材料的研发投入,,以及生产工艺的流程控制,降低成本,来增加产品的市场竞争力。因此会涉及到 OLED 电致发光层的各项重要指标需要有效测量,确保其材料质量;在 OLED 生产工艺中涉及到工艺控制整合,这样一方面确保产品的品质,另一方面降低生产成本,从而提高产品竞争力以及企业的生产整合效率。 解决方案 ME-L 穆勒矩阵椭偏仪可以同时快速准确测量 OLED 电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等;采用集成 ME-L穆勒矩阵椭偏仪的在线监测装备系统PMS 可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中。 Electroluminescent ligh ( 。采用穆勒矩阵数据处理原理,一次可测量多达16个参数,快速完成材料特征参数的表征; ) .设置测量参数1-8s(可设置时间)快速完成测量过程; .根据内置的丰富光学模块,完成数据的拟合分析。 样件organic/Si 的-N值图 可获取不同测量点所对应波长位置的完整的折射率N值 通过下图可获取不同测量点所对应波长位置的完整的吸收系数K值 样件的膜厚: 编号 1 2 3 测量厚度(nm) 83.90 83.77 84.19 MSE (拟合偏差) 0.383 0.369 0.510 客户价值 通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征 LED 电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数,确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统 PMS 支持定制,可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产 工艺流程中,大幅度降低企业生产成本并提高生产效率,确保产品的市场竞争力,实现企业价值最大化。 关联产品与配置 ME-L穆勒矩阵椭偏仪 行业背景   2009年-2014年,全球平板显示行业收入从921.12亿美元增长至1,310亿美元,产值规模不断扩大,已经成为产值超过千亿美元的成熟产业。全球平板显示产业经过快速发展阶段后,预计随后近十年,全球平板显示市场的增长将趋于平缓。经过近几年的技术发展,OLED屏幕终于成了业界追逐的新焦点。       OLED材料具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、无视角限制、响应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点,因此被业界认为是最有发展前景的新型显示技术之一。OLED目前主要应用在手机,但由于电视尺寸大部分集中在大尺寸上,因此成为OLED未来产值增长最主要的驱动力。面临挑战   OLED技术目前相对还不成熟,存在拼缝、成品率、成本高等问题,所以短期内对LED显示屏不构成威胁。这样势必加大OLED电致发光材料的研发投入,以及生产工艺的流程控制,降低成本,来增加产品的市场竞争力。因此会涉及到OLED电致发光层的各项重要指标需要有效测量,确保其材料质量;在OLED生产工艺中涉及到工艺控制整合,这样一方面确保产品的品质,另一方面降低生产成本,从而提高产品竞争力以及企业的生产整合效率。解决方案   过ME-L穆勒矩阵椭偏仪可以同时快速准确测量OLED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等;采用集成ME-L穆勒矩阵椭偏仪的在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中。通过下图可获取不同测量点所对应波长位置的完整的吸收系数K值
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武汉颐光科技有限公司为您提供《LED,OLED面板行业中膜厚及折射率测量检测方案(椭偏仪)》,该方案主要用于照明产品中膜厚及折射率测量检测,参考标准--,《LED,OLED面板行业中膜厚及折射率测量检测方案(椭偏仪)》用到的仪器有ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪、SE-VF 光谱椭偏仪