铜丝中表面粗糙度检测方案(扫描探针)

Quantum Design CHINA 应用4―一拉力作用下的微区测量 利用 SEM 快速识别表面变化区域，利用 AFSEM的纳米级分辨率测量细节变化 与拉伸台配合使用，原位 SEM 与 AFM 联用观测 利用 SEM 快速定位、复位悬臂梁，提高观测及测试效率 Oua 材料变化的高精度定量化测试及分析 图1集成在 SEM 腔体中的 AFSEMTM和拉伸台 图2铜丝拉伸过程中的原位 SEM、AFM分析，通过 AFM 图片可以清晰看到在拉力变大的过程中，铜丝表面的粗糙度增加。 CHINA 相关产品： 扫描电镜专用原位 AFM 探测系统：hthtttpps：//qd-china.com/zh/pro/detail/3/1912082218984 Ouantum Design China  拉力作用下的微区测量 利用SEM快速识别表面变化区域，利用AFSEM™的纳米级分辨率测量细节变化Ø  与拉伸台配合使用，原位SEM与AFM联用观测Ø  利用SEM快速定位、复位悬臂梁，提高观测及测试效率Ø  材料变化的高精度定量化测试及分析图1 集成在SEM腔体中的AFSEMTM和拉伸台图2 铜丝拉伸过程中的原位SEM、AFM分析，通过AFM图片可以清晰看到在拉力变大的过程中，铜丝表面的粗糙度增加