铟锡氧化物与透明导电氧化物

FILMETRICS111111111l 选择 Filmetrics 的优势 ·桌面型薄膜厚度测量的全球领导者 ·24小时电话，Email，在线支持 ·直观的分析软件 附加特性 ·嵌入式在线诊断方式 ·免费离线分析软件 ·精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测试结果 免费现场演示/支持 点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易! 应用 半导体膜层 液晶显示器 ·光刻胶 ·OLED ·加工膜层 ·玻璃厚度 ·介电层 ·ITO和TCOs 光学镀层 生物医学 ·硬涂层 ·聚对二甲苯 ·抗反射层 ·医疗器械 测量厚度从 1nm 到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器，需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率， F20 您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好，通过USB 与电脑连接，测量数据结果不到一分钟就能得到。由于其模块化的特点， F20 适用于各种各样的应用： 测量厚度、折射率、反射率和穿透率： -单层膜或多层膜叠加 独立膜屋 液态膜或空气层 ·不同条件下的测量，包括： -在平面或弯曲表面 选配最小尺寸可达20微米的光斑 桌面式、XY轴绘图式或在线式测量 所有的这些功能都附带在一个独立的软件安装包中，并且有我们的24小时/工作日内电话机网络支持，这就是 Filmetrics 的优势，让我们试一试! 可测样品膜层 基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如： SiNx TiO2 DLC SU-8 Polymers AIQ Amorphous Silicon ITO CIGS F20 薄膜厚度测量仪 样品大小： F20-UV F20-UVX F20 F20-EXR F20-NIR F20-XT 光源灯泡 MTBF： 1nm- 1 nm- 15nm- 15 nm- 100 nm- 0.2pm- 厚度测量范围*： 40 pm 250 pm 70 pm 250 pm 250 pm 450 pm 光谱仪 50 nm 50 nm 100 nm 100 nm 500 nm 2um 测量n和k值最小厚度*： 380- 380- 950- 1440- 1 nm 1 nm 2nm 2nm 3nm 5nm 准确度*：较大者 或0.2% 或0.2% 或0.2% 或0.2% 或 0.4% 或 0.4% 精度1： 0.02 nm 0.02 nm 0.02 nm 0.02 nm 0.1nm 1nm 稳定性2： 0.05 nm 0.05 nm 0.05 nm 0.05 nm 0.12 nm 1 nm 电源要求： 100-240 VAC， 50-60 Hz， 0.3-0.1A 600 um 接口： USB 2.0 安全认证： CE EMC 和欧洲安全认证 操作系统 PC： Windows XP(SP2)- Windows 8(64-bit) Mac： OS XLion/Mountain Lion running Parallels 优尼康科技有限公司 - Filmetrics 薄膜厚度测量系统专业代理商 联系方式：李先生15900490105 盘先生 15989637322 Email： Info@unicorn-tech.com Web： www.unicorn-tech.com 内容如有更改，恕不另行通知 2014 Filmetrics，Inc 液晶显示器，有机发光二极管变异体，以及绝大多数平面显示器技术都依靠透明导电氧化物 (TCO) 来传输电流，并作每个发光元素的阳极。 和任何薄膜工艺一样，了解组成显示器各层物质的厚度至关重要。 对于液晶显示器而言，就需要有测量聚酰亚胺和液晶层厚度的方法，对有机发光二极管而言，则需要测量发光、电注入和封装层的厚度。在测量任何多个层次的时候，诸如光谱反射率和椭偏仪之类的光学技术需要测量或建模估算每一个层次的厚度和光学常数 (反射率和 k 值)。不幸的是，使得氧化铟锡和其他透明导电氧化物在显示器有用的特性，同样使这些薄膜层难以测量和建模，从而使测量在它们之上的任何物质变得困难。Filmetrics 的氧化铟锡解决方案Filmetrics 已经开发出简便易行而经济有效的方法，利用光谱反射率精确测量氧化铟锡。 将新型的氧化铟锡模式和 F20-EXR, 很宽的 400-1700nm 波长相结合，从而实现氧化铟锡可靠的“一键”分析。 氧化铟锡层的特性一旦得到确定，剩余显示层分析的关键就解决了。不管您参与对显示器的基础研究还是制造，Filmetrics 都能够提供您所需要的...测量液晶层- 聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙测量有机发光二极管层- 发光、电注入、缓冲垫、封装对于空白样品，我们建议使用 F20 系列仪器。 对于成品薄膜，F40 和 F42 产品系列则有广泛的应用。测量范例此案例中，我们成功地测量了蓝宝石和硼硅玻璃基底上铟锡氧化物薄膜厚度。与Filmetrics专有的ITO扩散模型结合的F10-RTA-EXR仪器，可以很容易地在380纳米到1700纳米内同时测量透射率和反射率以确定厚度，折射率，消光系数。由于ITO薄膜在各种基底上不同寻常的的扩散，这个扩展的波长范围是必要的。测量设定: