地质样品中Ag元素检测方案(微波等离子体光谱仪(MPT、MIP))

4200微波等离子体原子发射光谱仪(MP-AES)测定地质样品中的常量和微量元素 摘要： 商业实验室在开发地化样品的原子光谱分析方法时遇到了很多困难。地化分析的浓度范围可以从常量元素的百分水平到痕量元素的亚 ppm 水平。例如， Cu 在目标钻井中的浓度可达百分水平，勘探时的浓度为 ppm 级， 在选择性浸出中的浓度为亚 ppm 级。除了分析所需的宽工作范围外，高水平的总溶解态固体、谱线叠加引起的光谱干扰以及易电离元素 (EIE) 引起的非光谱干扰等即使对经验丰富的分析化学家来说也是极大的挑战。火焰原子吸收光谱仪 (FAAS)一直以来都是地化分析的理想选择，但是现在人们更倾向于检测限更低、分析成本更低、使用更简便更安全的仪器， Agilent 4200 MP-AES 正是 FAAS 的理想替代品。 4200 MP-AES 的推出大大扩展了 MP-AES 的应用范围，完全涵盖了极富挑战性的地化样品。第二代4200MP-AES 拥有先进的微波腔和炬管，能够应对溶解态固体含量高的样品，与 FAAS 相比，它的检测限更低，工作范围更宽。MP-AES 使用氮气运行，无需使用昂贵且危险的气体(如乙炔)，大大提高了安全性，而且即使在偏远地区也可实现无人值守的运行。 简洁的仪器以及用户友好的 MP Expert 软件使得仪器设置和方法开发非常简单，最大程度减少了培训需求，即使是新手也能快速掌握。本应用简报给出了使用 4200 MP-AES 分析地化认证参考物质中常规金属(Ag、Cu、Ni、Pb 和Zn) 的结果。 点击下列图标获取免费资料 Agilent Technologies 商业实验室在开发地化样品的原子光谱分析方法时遇到了很多困难。地化分析的浓度范围可以从常量元素的百分水平到痕量元素的亚 ppm 水平。例如，Cu 在目标钻井中的浓度可达百分水平，勘探时的浓度为 ppm 级，在选择性浸出中的浓度为亚 ppm 级。除了分析所需的宽工作范围外，高水平的总溶解态固体、谱线叠加引起的光谱干扰以及易电离元素 (EIE) 引起的非光谱干扰等即使对经验丰富的分析化学家来说也是极大的挑战。火焰原子吸收光谱仪 (FAAS) 一直以来都是地化分析的理想选择，但是现在人们更倾向于检测限更低、分析成本更低、使用更简便更安全的仪器，Agilent 4200 MP-AES 正是 FAAS 的理想替代品。4200 MP-AES 的推出大大扩展了 MP-AES 的应用范围，完全涵盖了极富挑战性的地化样品。第二代 4200 MP-AES 拥有先进的微波腔和炬管，能够应对溶解态固体含量高的样品，与 FAAS 相比，它的检测限更低，工作范围更宽。MP-AES使用氮气运行，无需使用昂贵且危险的气体（如乙炔），大大提高了安全性，而且即使在偏远地区也可实现无人值守的运行。简洁的仪器以及用户友好的 MP Expert 软件使得仪器设置和方法开发非常简单，最大程度减少了培训需求，即使是新手也能快速掌握。本应用简报给出了使用 4200 MP-AES分析地化认证参考物质中常规金属（Ag、Cu、Ni、Pb 和Zn）的结果。