亚纳米金粒子中大小分布检测方案(X射线衍射仪)

采用Ｘ线小角散射法 评价亚纳米金粒子大小分布 测试仪器：样品水平式大功率Ｘ线衍射仪 RINT-TTRⅢ＋小角附件＋ 粒径・空孔径解析软件NANO-Solver 想得到什麽？ X线小角散射测试中、可评价粉末及液体分散微粒子、薄膜中分布的粒子及空孔大小分布。尤其可以评价ＴＥＭ及ＤＬＳ等难以评价的亚纳米粒子的平均大小尺寸以及分布。 测试・解析例 如下图所示、分散在有机溶媒中的金纳米粒子的测试结果。右图是根据小角散射测试结果估算出的粒径分布、与ＴＥＭ估算结果（直方图）叠加结果图 。 　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（样品：分子科学研究所　永田央助教授提供） 如下图所示（左图），测试很小的金纳米粒子结果、根据其剖面图推测出粒度分布（右图）。用 ＴＥＭ评价亚纳米量级的粒子分布较为困难、大家期待着用Ｘ线小角散射法作为粒度大小研究领域崭新的评价方法。 　 （样品：由兵库县立大学 物质理学研究科 木村研究室 八尾浩史助教授提供） 用TEM 得知粒径分布 －采用小角散射 得知粒径分布 1.E-01 1.E+00 1.E+01 1.E+02 1.E+03 1.E+04 1.E+05 0 2 4 6 8 10 2θ[°] 散乱強度[cps] 测试数据 计算数据 残差