电子组件板中有害元素的EDXRF分析报告

电子组件板中有害元素 EDXRF 分析报告 引言 能量色散X射射荧光光谱(EDXRF)提供了一个有效的替代传统操作的方法，能量色散X射线荧光光谱仪提供了以下益处：1)样品制制简单，无损检测，2)自动采样分析，无需操作人员干预，3)非破坏性方法，可用其他方式检测样品，4)方法适用于非技术人员。 分析步骤 表1：分析配置 仪器 RoHs 检测仪 X-光源 Mo-阳极标准 探测器 Pin diode，热电冷却 分析时间 300少 校准方法 半定量 限制 无 工作环境 空气 样品准备 不需要 图1：通过RoHs 检测仪分析了 BGA 的顶部部分，如图所示 图2： BGA 的 EDXRF 谱图，使用RoHS检测 Cr， Hg，Pb， Br 元素，如图在样品中只发现了 Br 元素 图3： BGA的 EDXRF谱图， 使用 RoHS检测 Cd元素，如图在样品中没有发现 Cd元素 表2： BGA样品区域分析的结果和精度 元素 平均浓度 Cr <33ppm Hg <3ppm Pb <3ppm Br 6033 ppm Cd < 4ppm 图4：通过RoHs 检测仪分析了电容器的顶部，如图所示 Pb， Br 元素，如图在样品中只发现 Pb 和Br 元素 图6：：电容器的 EDXRF 谱图， 使用 RoHS 检测 Cd 元素，如图在样品中没有发现 Cd元素 表3：电容器样品区域分析的结果和精度 元素 平均浓度 Cr 3ppm Hg < 3ppm Pb 3416ppm Br 6158ppm Cd <4ppm 图7：通过RoHs 检测仪分析了金手指上方的区域，如图所示 图8：金手指的 EDXRF 谱图，使用 RoHS 检测 Cr， Hg， Pb， Br元素，如图在样品中发现 Br 和Cu 元素 图9：去除PCB背景得出的金手指 EDXRF 谱图，如图没有发现Br 元素 图10：对金手指的 Cd 元素进行定性分析，样品中没有发现Cd元素 表4：金手指样品区域分析的结果和精度 元素 平均浓度 Cr <3ppm Hg < 3ppm Pb K 33ppm Br 3ppm Cd 4ppm 讨论 无论是需要自动定性分析，还是半定量(无标准)或严格的定量分析，使用RoHS能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)可以很容易的检测需元素， RoHS分析仪具有独特的X射线管与探测器，它允许检测非常紧密耦合的样品，从而使激发过程中能量损失达到最小，同时极大地提高了灵敏度。RoHS 分析仪配备 50KV 的X射线管，可以最大效率的激发 Cd 元素， RoHS 分析仪还能够提供最大4 mA的电流，最大限度的使X射线激发样品，具有更好的灵敏度。 客户需要检测电子组件板中的Cr， Hg， Pb， Br 和 Cd元素，如上图使用 RoHs检测仪所得的谱图，由于在这一应用中并没有提供标样，因此我们使用聚乙烯的标准来检测感兴趣的元素。电子元件含量最多的是 Br 元素，但电容器有一些可检测的 Pb 元素，其他元素均低于 RoHS 分析仪检测限，这可以通过缺少的Hg， Br，和 Cd 元素的 KLM 线来证实。 表4： RoHS 分析仪的最低检测限 元素 平均浓度 Cr 3ppm Hg 3ppm Pb 3ppm Br 3ppm Cd 4ppm 所有数据的获得都使用了最新版本的 nEXt 软件， nEXt 软件允许操作员完全控制光谱仪的电压，电流和管过滤器， nEXt 软件是一款强大的研究和开发应用的软件，拥有大量的分析方法，如：基本参数和一些回归校正算法。在回归算法中所使用的α校正方法是 nEXt 软件自动算出的，并且可以在矩阵中补偿在X-射线吸收和增强的变化。操作员可以发现 nEXt 软件可以很简单的使用定性特征，如：如自动峰识别，数字滤波器， KLM 标记和元素周期表的所有元素。虽然 nEXt软件拥有如此强大的功能，但其可以适用于非技术人员。 结论 这项研究表明， RoHS 分析仪具有良好的精度和性能。给予足够的独立标准，可以建立精确的校准，通用性强，是顾客的理想选择。