上海伯东 inTest ATS-710E 用于车载芯片高低温循环测试
随着汽车自动化、智能化的快速发展,车载芯片及模组成为当前开发的重点,由于车规产品基本覆盖汽车的全生命周期,因此必须符合汽车功能安全标准,而高低温测试则是其相关零部件检测的必要条件。上海伯东通过与某客户沟通,其车载芯片需进行温度循环测试,其各温度要求如 -40℃、0℃、25℃、65℃、110℃、150℃,通过进入 ATS-710E 的温度循环设置界面,快速设定相应温度点、变温速率及持续时间,即可依次进行温度循环试验,与常规温箱相比,极大地提高温度测试效率。