上海伯东 inTest ATS-710E 用于车载芯片高低温循环测试

   随着汽车自动化、智能化的快速发展，车载芯片及模组成为当前开发的重点，由于车规产品基本覆盖汽车的全生命周期，因此必须符合汽车功能安全标准，而高低温测试则是其相关零部件检测的必要条件。   上海伯东通过与某客户沟通，其车载芯片需进行温度循环测试，其各温度要求如 -40℃、0℃、25℃、65℃、110℃、150℃，通过进入 ATS-710E 的温度循环设置界面，快速设定相应温度点、变温速率及持续时间，即可依次进行温度循环试验，与常规温箱相比，极大地提高温度测试效率。 ThermoStream 全系列产品均可提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式。在实际测试中，如果是单颗待测器件，则将热电偶探头放置于器件周边，越靠近器件越好。此时，设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值。ATS-710E-M 技术参数: 温度范围-75°C 至 + 225°C (50 HZ)变温速率 -55至 +125°C 约 10 S 或更少+125至 -55°C 约 10 S 或更少输出气流量4 至 18 scfm温度精度±1℃ 通过美国NIST 校准温度显示分辨率±0.1℃温度传感器T或K型热电偶上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机， 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络 上海伯东: 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！