使用三重四极杆 ICP-MS 对低浓度氟、氯、溴和碘进行分析

电感耦合等离子体质谱法 (ICP-MS) 因其特异性、检测能力和提供同位素信息的能力，广泛应用于不同基质中痕量元素杂质的定量分析。在 ICP-MS 中，检测灵敏度由特定元素的第一电离势（即从价电子层中移除一个电子所需的能量）和质量决定。在氩气等离子体中，通常只有电离势低于 6 eV 的元素（如碱金属和碱土金属）才能实现完全电离。典型的过渡金属、贵金属和稀土元素的电离率仍接近100%。然而，半金属，尤其是非金属，如硅、硫或卤素，其电离效果较差。同时，它们的信号通常出现在低质量范围内（通常低于 m/z 50），在质谱仪的传输过程中，很多离子会丢失。此外，其他因素也可能对分析产生显著影响，例如同位素干扰和多原子干扰，这会导致特定元素的最大丰度同位素结果出现偏差，因此分析人员常常需要选择一种灵敏度较低但没有干扰的替代方案。尤其是在低质量范围内，多原子干扰非常普遍，因此几乎无法使用 ICP-MS 进行分析。卤素的分析在涉及不同行业的多种样品基质中具有重要意义，例如环境监测、制药、石油和天然气，以及锂离子电池和可再生燃料等工业应用。离子色谱法 (IC) 是分析卤素的常用技术，而基于氩等离子体的技术（如 ICP-OES 或 ICP-MS），在这方面的应用则较为有限。然而，氩等离子体技术作为一种元素选择性检测系统具有出色特性，因而在检测卤素等方面的应用与色谱技术形成了高度互补。本说明介绍了使用 Thermo Scientific™ iCAP™ MTX ICP-MS 开发的分析工作流程，以应对与使用 ICP-MS 分析卤素相关的分析挑战。