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轫致辐射所产生的X射线信号由于原理本身而并不能在检测器端屏蔽，其必然会叠加到元素测试所使用的特征X射线信号的检测，对结果分析产生干扰，甚至会使结果产生严重的假象数据，误导分析人员。本文探讨了超轻元素和微量元素测试中轫致辐射所产生的信号对测试结果的影响，以及在测试之前如何发现和规避这方面的干扰，结合岛津电子探针软件中的功能并综合运用多种分析方法，给出了背景信号分析的应对解决方案。
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岛津电子探针通过配置高位52.5°的X射线检出角以及兼具灵敏度和分辨率的全聚焦分光晶体，在微量元素测试中具有很高的灵敏度。涉及到超轻元素和微量元素在电子探针微区分析中，需要仪器具有较高的测试灵敏度，同时借助岛津电子探针便捷的背景信号测试和后续的数据处理，可以方便地扣除轫致辐射产生的背景噪音信号的干扰和假象数据的影响。
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产品配置单
岛津企业管理（中国）有限公司为您提供《轫致辐射对EPMA测试结果的影响及应对》，该方案主要用于合金中轫致辐射 背景噪音 微区分析检测，参考标准--，《轫致辐射对EPMA测试结果的影响及应对》用到的仪器有电子探针EPMA-1720系列
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