电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱:试验条件:将电子产品放入高低温试验箱通电老化高温参数设置:温度45℃、湿度80% RH、时间24 hrs低温参数设置:低温0℃、时间24 hrs试验方法:试验一:高温运行1、样品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内,2、箱内温度逐渐升温至所设置的温度,当电子产品达到温度稳定后,接通电源持续工作16小时,3、样品断开电源,箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下,4、恢复两小时;5、对试验产品进行全方面的检测。试验二:低温运行1、电子产品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内;,2、高低温试验箱内温度逐渐降低至所设置的温度,当样品达到温变稳定后搁置2小时,然后接通电源持续工作1小时;3、样品断开电源,试验箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下,4、箱内温度上升至正常试验大气条件范围内的常温常压下,5、恢复两小时;6、对试验产品进行全方面的检测;判定标准: