A1020自动开口闪点测定仪本开口闪点自动测试系统是根据国家标准 GB3536及国际标准ISO2592 规定的实验方法与操作程序研制的闪点测试系统。 整机用Atme189C51 等芯片组成单片机对整个测试过程进行调控。由铂电阻作为测温传感器,通过电桥把温度的变化转化为电压的变化,并通过 A/D转换器,使用中无需调零。接口电路及逻辑控制电路均采用集成电路及高可靠性光电耦合器件。并解决了一些诸如抗干扰的问题。室温下为液体的样品:取样前应轻轻摇动混匀样品,再小心地取样,应尽可能避免挥发性组分损失,室温下为固体或半固体的样品将装有样品的容器放人加热浴或箱中,在低于预期闪点 56℃以下加热。要避免加热过度,因为这会导致挥发性组分的损失。轻轻混样品后取样。
A1020自动开口闪点测定仪本开口闪点自动测试系统是根据国家标准 GB3536及国际标准ISO2592 规定的实验方法与操作程序研制的闪点测试系统。 整机用Atme189C51 等芯片组成单片机对整个测试过程进行调控。由铂电阻作为测温传感器,通过电桥把温度的变化转化为电压的变化,并通过 A/D转换器,使用中无需调零。接口电路及逻辑控制电路均采用集成电路及高可靠性光电耦合器件。并解决了一些诸如抗干扰的问题。室温下为液体的样品:取样前应轻轻摇动混匀样品,再小心地取样,应尽可能避免挥发性组分损失,室温下为固体或半固体的样品将装有样品的容器放人加热浴或箱中,在低于预期闪点 56℃以下加热。要避免加热过度,因为这会导致挥发性组分的损失。轻轻混样品后取样。
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