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纳米颗粒的生产效率不断提高，并且已成为开发具有高性能新材料的重要组成部分。最终产物的性能不仅取决于纳米颗粒的化学性质，还取决于它们的大小，以及在整个加工过程中能保持分散均匀状态
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小角X射线散射（SAXS）是一种无损技术，能够测试1-250nm范围内的材料结构，并且只需要很简单的样品制备过程。它提供了宏观体积范围（通常为1mm3）的统计相关信息。因此，它对于只提供局部信息的电镜技术，是一种理想的补充。虽然传统意义上SAXS用于表征实验室定义明确的小体积样品的尺寸分布，但本应用手册展示了SAXS与独特的数据分析算法结合，成功地应用于表征工业用途不同工艺步骤的纳米颗粒的尺寸分布。Nanomakers是一家生产纳米颗粒和纳米复合材料的制造商[2]。SAXS是目前唯一一种能够准确测定干粉、分散液和纳米复合材料的纳米粒径的技术，这为Nanomakers提供了整个生产链的纳米结构信息。
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赛诺普（苏州）科学仪器有限公司为您提供《赛诺普Xenocs小角X射线散射仪检测固体粉末、颗粒分散液及复合材料的纳米粒径分布》，该方案主要用于其它中纳米粒径检测，参考标准--，《赛诺普Xenocs小角X射线散射仪检测固体粉末、颗粒分散液及复合材料的纳米粒径分布》用到的仪器有Xenocs小角X射线散射仪Nano-inXider
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