微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐体、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。
包装系统密封性(package integrity),又称容器密封完整性(container–closure integrity),是指包装系统防止内容物损失、微生物侵入以及气体(氧气、空气、水蒸气等)或其他物质进入,保证药品持续符合安全与质量要求的能力。包装系统密封性检查(package integrity test),或称为容器密封完整性检查(container–closure integrity test, CCIT),是指检测任何破裂或缝隙的包装泄漏检测(包括理化或微生物检测方法),一些检测可以确定泄漏的尺寸和/或位置。测试设备测试原理:通过标准腔与测试腔的压力比对,来判定测试腔是否存在气体泄漏。基准容器和被测容器都是确保密封不存在泄漏的,将试样放入被测容器后,由于试样的气体泄漏导致被测容器的压力变化,通过差压传感器检测到压力的变化量,再通过公式计算可推导出泄漏孔径和泄漏流量。试验流程1. 将试样放入测试腔体,根据设定的目标真空度对测试腔进行抽真空。在“一定的时间内"到达设定的真空度,则判断试样无大泄露,反之则判断为不合格。2. 设定平衡时间、临界值。在设定的保压时间内真空度降不到设定的临界值,则判断试样无中泄露,反之则判断为不合格。3. 设定测试时间。在测试时间内试验压力降不到参考压力值,并且压力衰减值小于参考压力衰减值,则判断试样无微泄露,反之则判断不合格。验证方法1. 制作标准试样,标准试样分为阴性试样和阳性试样。2. 阴性试样为无泄漏的实体,外形尺寸根据用户要求制作,主要作用是标定真空衰减率、阴性试验对照。3. 阳性试样是具有一定漏孔的样品,阳性试样可以有效的验证实际产品在检测过程中的泄漏等级,是验证产品泄漏的重要参照项。激光打孔是比较常见的制备阳性试样的方法之一,可在空瓶瓶体上加工直径5μm、10μm、50μm、100μm的孔,瓶口用胶塞及瓶盖封口;也可以制作一定漏孔的瓶盖,并用此瓶盖封住瓶口。
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