电子元器件中高温低温冲击检测方案(冲击试验箱)

冷热冲击试验箱如何应用于电子电工产品的试验方法 产品概述：冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGAP、CB 基扳、电子芯片 IC 、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，调试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的 IC到重机械的组件，无一不需要它的理想调试工具。 电子电工产品在试验设备温度可调范围内，一般选取 GB/T 2423.1和 GB/T2423.2标准中规定的有代表性的温度标称值。 低温：-65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃等。 高温：+30℃，+40℃，+55℃，170℃，+85℃，+100℃，+125℃，+155℃，+175℃，+200℃等。 根据试验和检验的需要，亦可选取其他温度标称值。 1、使试验设备降温或升温，自设备进人控温状态后稳定 30 min(稳定时间最长不超过2h)，开始记录各测量点的温度和设备指示温度，每隔1 min 记录一次，在30 min 内共记录30次。 注：当设备控制器的温度示值达到设定值偏差带时起，可视为进人控温状态。 2、温度变化速率的检验步骤 3、把试验设备调节到要求温度上，自设备进人控温状态后稳定 30 min。 4、把试验设备调节到另-要求温度上，记录测量点的温度从温度范围的10%上升(下降)到90%所需的时间。 5、每5 min 温度平均变化速率的检验步骤 6、把试验设备调节到要求温度上，自设备进人控温状态后稳定30 min. 7、按要求的变化速率使试验设备升温或降温至另--要求温度，在升降温过程中，每1min测量一-次测量点的温度。 温度冲击范围 -20℃ 150℃ -40℃ ~150℃ -60℃ 150℃ 温度波动度 ±0.5℃ 温度均匀度 ≤2℃ 温度偏差 ≤+2℃ 恢复时间 ≤5分钟(与冷却水温、暴露温差、恒温时间、试样重量有关) 降温时间 20℃~-40℃约50分钟(单独运转时) 转换时间 5+5S 箱体结构： 1、箱体外壳材料：：外表面A3钢板喷塑； 2、箱体内胆材料： SUS304 不锈钢板； 3、观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察窗一个(300×200mm).观察窗上安装照明灯； 、保温材料：超细玻璃纤维棉将内室、外壳、高温室、低温室连接成一个整体； 多种规格任君来选 三箱式冷热冲击试验箱 两槽式冷热冲击试验箱 细节展示精致随行 电子电工产品在试验设备温度可调范围内,一般选取GB/T 2423.1和GB/T 2423.2标准中规定的有代表性的温度标称值。低温:-65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃等。高温:+30℃,+40℃,+55℃,170℃,+85℃,+100℃,+125℃,+155℃,+175℃,+20O℃等。根据试验和检验的需要,亦可选取其他温度标称值。 1、使试验设备降温或升温,自设备进人控温状态后稳定30 min(稳定时间最长不超过2 h),开始记录各测量点的温度和设备指示温度﹐每隔1 min记录一次,在30 min内共记录30次。注:当设备控制器的温度示值达到设定值偏差带时起,可视为进人控温状态。2、温度变化速率的检验步骤3、把试验设备调节到要求温度上,自设备进人控温状态后稳定30 min。4、把试验设备调节到另-要求温度上,记录测量点的温度从温度范围的10%上升(下降)到90%所需的时间。5、每5 min温度平均变化速率的检验步骤6、把试验设备调节到要求温度上,自设备进人控温状态后稳定30 min.7、按要求的变化速率使试验设备升温或降温至另--要求温度,在升降温过程中,每 1 min测量一-次测量点的温度。