痕量样品中痕量样品检测方案(ICP-MS)

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发布时间: 2020-05-20
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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

钻石22年

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本文介绍了高通量系统(HTS)的设计初衷,这种高容量进样模块能与NexION® ICP-MS和Syngistix™软件无缝集成,在不影响检测限、检测准确性和可重复性的前提下,使样本间分析的速度加快五倍。

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伟大的技术让一切变得不同版权所有C2019, PerkinElmer, Inc. 保留所有权利。PerkinElmer 是PerkinElmer, Inc. 的注册商标。其它所有商标均为其各自持有者或所有者的财产。300016_CHN 独特、先进的技术确保无缝运行和卓越结果。 如您所在的实验室一样,痕量元素检测实验室需要以尽可能低的成本实现快速周转,同时仍需以足够的准确性满足监管要求。而这正是我公司高通量系统(HTS)的设计初衷。这种高容量进样模块能与NexION@ICP-MS和SyngistixTM软件成缝集成,在不影响检测限、检测准确性和可重复性的前提下,使样本间分析的速度加快五倍。 HTS是基于真空的阀驱动系统,能够与Syngistix平台完全集成,因此无需第三方软件。该系统使用无金属流体通道,,可可将样本快速传输至等离子体,从而提供卓越的结果。通过简单的程序设置和工作流程,配备HTS的NexION ICP-MS可简化高通量分析的方法开发,使您每天能够分析的样本数量大大增加。 配备HTS和S10自动进样器的NexlON 1000 ICP-MS 除了HTS进样系统提供的生产率优势之外, NexiON ICP-MS还利用许多其他独特的专利技术来实现无缝运行,使您能够只专注于结果。 全基体进样系统(AMS)使您无需手动稀释即可运行高固溶含量(TDS)样品。固态自激式RF发生器可提供出色的等离子体控制和稳定性来处理这些样品。 革命性的LumiCoilTMRF线圈保证使用寿命,且无需水冷或气冷。与创新型专利等离子体发生器联用,可提高分析性能,增强结果可靠性,同时降低运营成本。 三锥接口和四极杆离子偏转器组合可防止未电离物质进入池或检测器。这种组合可在不牺牲稳定性和准确性的前提下消除锥体后的维护需求,帮助您的实验室实现最大的生产率。 HTS与NexiON ICP-MS和Syngistix软件的集成可实现无缝运行,提高分析通量。 通用池技术(Universal CellTechnologyM)可提供同类最佳的干扰消除技术,确保数据的真实可信度。仪器具有三种操作模式(标准、碰撞和反应),集碰撞池的简单与反应池的高效于一体。 其独有的电子稀释技术(EDR)使您可以在同一次运行中测量同一样本中低浓度和高浓度的元素,将线性动态范围扩展至多达12个数量级,并在保持检测器使用寿命的同时优化工作效率。 仪器配备的SyngistixTM软件操作界面非常直观,可以反映您的工作流程,并通过从左到右的图标导航指导您进行分析;同时该软件还是一个跨平台解决方案,简化了不同技术之间的转换。更重要的是,软件中还提供了预加载的检测方法,消除了在许多应用中进行方法开发的需要。 ( 要获取全球办事处的完整列表,请访问http:/ / www.perkinelmer.com.cn/AboutUs/ContactUs/ContactUs ) 本文介绍了高通量系统(HTS)的设计初衷,这种高容量进样模块能与NexION® ICP-MS和Syngistix™软件无缝集成,在不影响检测限、检测准确性和可重复性的前提下,使样本间分析的速度加快五倍。
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