CMOS传感器中CMOS传感器光谱响应和量子效率测试检测方案(光学测量仪)

成像传感器量子效率测试光源 图像传感器和摄像头模块的光谱响应和量子效率特性测试 准确性 就图像传感器行业而言，准确地了解传感器的光电量子效率特征对提高和检验产品质量至关重要。良好表征的传感器允许设备集成商指定和定制输入光学器件和光谱过滤，并通过最终产品应用性能增强校正。 光谱辐照度/辐射源标准可在硅基光学传感器的光谱灵敏度范围内控制已知水平的均匀单色光，用于测试和表征图像传感器，以获得光谱响应度，量子效率和线性度。 一体化设计，即插即用，可以节约您宝贵的资源和时间。 灵活的设计 图像传感器需要开展一些对一致性和效率要求都很高的测试。行业要求使用一致性高和通量大的测试设备来进行测试。我们的设备采用两种光源，可以在UV-VIS 和 NIR 波段实现测试效率最大化。载有六种滤光片的滤光轮可以控制传感器接收到的光学信号。集成的监控器可以实现实时了解落在传感器上的光亮度。得益于业界最佳的积分球技术，我们的设备可以实现落在图像传感器上的光具备完美的均匀度。 高度的可定制性 蓝菲光学深信每个客户的应用都是独特的。蓝菲光学将以该系统为基础，与用户合作实现最适合的定制应用。 价值 ·极高的亮度水平和动态范围可以满足图像传感器的测试要求。 ·均匀的光谱辐照度测试传感器确保了对比和校准结果的一致性。 ·可控的单色光亮度水平允许最大范围地测试多种光电设备。 ·实时NIST溯源的光谱辐照度/辐亮度输出。 ·提供二次开发软件工具包，可供客户快速建立自定义测试原型。 测量 ·量子效率 。光谱响应 典型最大光谱辐照度/辐亮度水平 波长范围： 光谱带宽： 波长准确度： 视场均匀度： 输出端口几何直径： 输出端口孔径： 通讯： 用户模式软件： 软件开发工具包： 工作环境温度： 尺寸/重量： 工作台及设备： 机架： QES-1000 与我们的应用工程师合作打造满足您独特需求的系统。 ·滤光片与滤光轮旋转控制 重量 285kg 18kg chinasales@labsphere.comwww.labsphere.com/www.labsphere.com.cn ◎Labsphere， Inc. All Rights ReservedPB-Rev. 利用近朗伯特性光谱辐射光源表征CMOS传感器的光谱响应和量子效率技术方案根据应用的不同，每个CMOS传感器都会对入射到其上的光线做出不同的响应。 造成这种情况的因素很多，包括波长，入射角，成像光学系统，光阑和有效光敏面积。 传感器被表征为一个不带成像光学系统的焦平面阵列(FPA)，然后在成像应用程序中测试它们的用途。其中表征其特性的一个值是其光谱响应度或量子效率（QE）。 CMOS成像传感器的光谱响应度和QE由传感器的耗尽区对光子的吸收能力所决定。在这个区域，光子被转换成电荷，随后被形成像素的电场所控制。然后，耗尽区所控制的电荷被转移并以电子方式测量。为了表征传感器的特性，需要一个已知的近朗伯表面的光谱辐照度照射在传感器。商业挑战客户在其消费电子产品中大量使用传感器。传感器的初始性能表征和选择适当的器件集成到其产品中，对其产品的性能，可靠性和品牌至关重要。蓝菲光学解决方案图1 成像传感器量子效率测试系统该公司寻求Labsphere来设计，建造和交付一个全自动光谱辐射计光源，用来提供均匀的光谱辐照度。校准系统由稳定的紫外-可见-红外光源、单色仪、带中性滤光片和空白档位的滤光轮(用于暗校正)、监控探测器、积分球、控制有效f数的开孔、参考光电二极管和信号调节电路。该系统采用实时，可溯源的探测器来监控在传感器光敏面的光谱辐照度，同时客户还可以自定义视场角（FOV）。目标优势为OEM产品选择合适的传感器可靠产品质量和性能通过一个系统来测试用户自定义照明条件下多个传感器使用设计好的应用几何结构表征量子效率优化测试时间使用一个通用系统，可以对每个被测设备进行多项测试