Ag Lα源作为XPS分析中的一个高能靶材选项越来越受到重视。Ag Lα源的能量为2984.3 eV,远高于传统的Al Kα源(1486.6 eV),使得Ag Lα XPS测试结果能够提供材料更深层次的信息,此外Ag Lα源经常性被用于消除不同元素俄歇峰与特征轨道谱峰之间的干扰分析。除以上两个特点,Ag靶由于其高能量,可激发出更内层的轨道电子,对于Al靶测试时的不同元素主峰与非特征峰等干扰时,亦可提供其他轨道分析的选择。
使用岛津AXIS Supra+仪器测试了同时含有Cu、Si、Al元素,且不同轨道谱图之间存在部分干扰的样品,并结合不同靶材的灵敏度因子给出了相应的半定量结果。高能Ag靶具备可分析更深层的样品信息、消除俄歇峰与特征峰干扰以及可激发更内层轨道电子的特点,岛津XPS配备高能Ag靶与Al靶共靶面,共用单色器,仅需一键操作便可实现相互切换。
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岛津企业管理(中国)有限公司为您提供《高能Ag靶应用于不同轨道谱峰干扰时的分析》,该方案主要用于金属材料基复合材料中高能Ag靶 谱峰干扰检测,参考标准--,《高能Ag靶应用于不同轨道谱峰干扰时的分析》用到的仪器有岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+