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电子元器件对周围水蒸气含量要求严格，因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性，防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试，通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程，为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。
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电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法摘要：电子元器件对周围水蒸气含量要求严格，因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性，防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试，通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程，为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。关键词：电子元器件、老化、整机外罩、水蒸气透过率、阻湿性、水蒸气透过率测试系统1、意义现今，人类对提高电子元器件的使用寿命的研究日益深入，而其外包装的有效阻湿性对其使用寿命的延长至关重要。因在高湿的环境下零部件易受潮，导致在使用过程中塑体与零部件引脚处产生裂缝，进而引起壳体渗漏，芯片逐渐受潮失效。因此，电子元器件生产企业通常在电子元器件外面添加整机外罩装置，以阻隔水蒸气，保护内部元器件，防止出现提前老化的现象。进而，生产企业应严格监控整机外罩包装的阻湿性能。
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济南兰光机电技术有限公司为您提供《电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法》，该方案主要用于包装中水蒸气透过率测试检测，参考标准--，《电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法》用到的仪器有C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR
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