薄膜和薄片中厚度检测方案(其它测厚仪)

Paratronix PTT-03A厚度测试仪 产品介绍 PTT-03A薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数 产品标准 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPIT411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702 产品应用 测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 ·测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； ·可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； ·嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求 ·触控屏操作界面 ·7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 ·进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 ·内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 ·严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ·高精度测厚传感器，精度高重现性好 ·可采用标准厚度计量工具标定、检验 ·多种测试量程可选 ·实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断 ( ·标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 ) 配种砝码、非标测量头、自动进样装置 山东普创工业科技有限公司 电话： 邮箱： info@paratronix.cn 网址： www.paratronix.cn制造商保留提升产品性能和参数的权利        当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，由于电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。那如何检测薄膜的厚度呢，本篇文章山东普创工业科技有限公司问您提供方案。试样制备：在距样品纵向端部大约1 m处,沿横向整个宽度截取试样,试样宽100 mm。除为提交或包装而折叠样品,试样应无折皱,也不应有其他缺陷。选择仪器：               PTT-03A薄膜测厚仪测试步骤：1.试样在(23士2)C条件下状态调节至少1 h,对湿敏薄膜﹐状态调节时间和环境应按被测材料的规范,或按供需双方协商确定。2.试样和测量仪的各测量面(2.1)无油污、灰尘等污染。3. 测量前检查测量仪零点,在每组试样测量后应重新检查其零点。4.测量时应平缓放下测头,避免试样变形。