土壤侵蚀中水分运动特征研究检测方案(土壤测定仪)

易 科 泰 生 态 技 术 有 限 公 司 Beijing Ecotech Ecological Technology Ltd. 土壤侵蚀之崩岗崩壁不同土层水分运动特征研究 在位于福建省安溪县龙门镇洋坑村一处特征明显的崩壁上，安装了一套由22个TDR探头组成的“EMS-PICO TDR土壤水分监测系统”，在南方崩岗发生区，安溪县崩岗数量为福建省最多的地区，因此选择典型活动型崩岗为研究对象。 土壤水分是土壤重要的组成物质，对崩岗的发生发展起到促进作用。崩壁水分进入母质层，使得母质土层中的土壤被水流带走进而对崩岗的稳定性造成严重的威胁。 2015年3月份我司EMS-PICO TDR土壤水分监测仪在该区域初次安装图 此后该套仪器为福建农林大学农业资源与环境学院的师生，在研究崩岗土壤水分运移动规律等特性上提供了有利的技术支持。 南方雨水较为充沛，弱透水层的存在使水分难以垂直入渗到更深层土体，崩壁表面易形成径流;加上表层土壤受雨水的不断冲刷，崩壁土壤处于水分饱和状态，易发生崩塌剥落;如果降雨持续，超过土体自身塑限，崩塌后形成的临空面可能发生二次崩塌。 土壤含水量主要受到降雨入渗等因素影响，因此在一定程度上决定土壤含水量的变化。 不同剖面TDR土壤水分传感器的安装图 各土层不同深度土壤含水量变化 在实验里主要应用了染色示踪法和优先流的特征来分析崩岗的三个层面红土层、砂土层、碎屑层染色各梯度面积比例，以分析崩岗崩壁不同土层的水分运动分布特征。其中染色剖面图像处理是利用Photoshop-cs5 对图层处理和像素分析，其次还可以用遥感图像处理软件比如，ERDAS8.5、ARCGIS 8.1或者ENVI等对图像进行几何校正、假彩色合成、掩膜、分类等分析功能。 染色剖面处理 土壤大孔隙是土壤水分和空气的主要通道，它的存在可以导致土壤优先水流和溶质优先迁移的产生，是水分和化学物质快速、远距离运移的主要甚至可能是唯一的途径。在此实验之前，土壤理化性质的测定还用到了我司的DIK-1150土壤三相测定仪。 我公司提供可以适应不同环境体质的土壤水分实验方案，以及一体化集成方案等等需求。 主要产品技术：  CoreScanner样芯密度与元素扫描分析系统  XRF Scanner 岩矿样芯元素扫描分析系统  SisuCHEMA高光谱成像分析系统  SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统  SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统  SpectraScan高光谱成像扫描分析系统 北京市海淀区中关村东路89号恒兴大厦19B(100190) Tel.: +86 10 82611269/1572 Fax: +86 10 62536325 Http: //www.eco-tech.com.cn Email: sales@eco-tech.com.cn info@eco-tech.com.cn 在位于福建省安溪县龙门镇洋坑村一处特征明显的崩壁上，安装了一套由22个TDR探头组成的“EMS-PICO TDR土壤水分监测系统”，在南方崩岗发生区，安溪县崩岗数量为福建省最多的地区，因此选择典型活动型崩岗为研究对象。土壤水分是土壤重要的组成物质，对崩岗的发生发展起到促进作用。崩壁水分进入母质层，使得母质土层中的土壤被水流带走进而对崩岗的稳定性造成严重的威胁。 此后该套仪器为福建农林大学农业资源与环境学院的师生，在研究崩岗土壤水分运移动规律等特性上提供了有利的技术支持。南方雨水较为充沛，弱透水层的存在使水分难以垂直入渗到更深层土体，崩壁表面易形成径流;加上表层土壤受雨水的不断冲刷，崩壁土壤处于水分饱和状态，易发生崩塌剥落;如果降雨持续，超过土体自身塑限，崩塌后形成的临空面可能发生二次崩塌。土壤含水量主要受到降雨入渗等因素影响，因此在一定程度上决定土壤含水量的变化。     在实验里主要应用了染色示踪法和优先流的特征来分析崩岗的三个层面红土层、砂土层、碎屑层染色各梯度面积比例，以分析崩岗崩壁不同土层的水分运动分布特征。其中染色剖面图像处理是利用Photoshop-cs5 对图层处理和像素分析，其次还可以用遥感图像处理软件比如，ERDAS8.5、ARCGIS 8.1或者ENVI等对图像进行几何校正、假彩色合成、掩膜、分类等分析功能。土壤大孔隙是土壤水分和空气的主要通道，它的存在可以导致土壤优先水流和溶质优先迁移的产生，是水分和化学物质快速、远距离运移的主要甚至可能是唯一的途径。在此实验之前，土壤理化性质的测定还用到了我司的DIK-1150土壤三相测定仪。 我公司提供可以适应不同环境体质的土壤水分实验方案，以及一体化集成方案等等需求。主要产品技术：Ø CoreScanner样芯密度与元素扫描分析系统Ø XRF Scanner 岩矿样芯元素扫描分析系统Ø SisuCHEMA高光谱成像分析系统Ø SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统Ø SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统Ø SpectraScan高光谱成像扫描分析系统