粉末颗粒中表面形貌检测方案(扫描电镜)

PHENOMSCIENTIFIC飞 纳 电 镜 样品制备：如何分散粉末以获得优异的扫描电镜图像 由于增材制造的重要性日益提高，颗粒分析变得越来越重要，导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量最大化外，制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。 正如在最近的一篇博客中所述，样品制备是进行扫描电镜分析的关键步骤，特别是在分析颗粒时，这一步骤更为重要。 在本篇博客中，将讨论如何使用 NebulaTM颗粒分散器实现颗粒均匀分散，并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。 分散粉末样品的原因 为了确保颗粒分析的准确性，不仅需要分离单个颗粒，而且还要分离附着物。图1显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 NebulaTM颗粒分散器之间的区别。 图1：将粉末样品直接涂覆到碳导电胶(左)和使用 NebulaTM颗粒分散器(右)之间的扫描电镜图比较。 NebulaTM 颗粒分散器进行样品制备 Nebula NebulaTM 的使用步骤如下图所示。在开始之前，操作者移除圆柱并取出样品台(通常由铝制成)。先在样品台上粘贴多孔多导电胶(a)，再将样品台放置在NebulaTM 基座上(b)。盖上圆柱，打开真空阀(c)，使真空仓内的压力迅速降低。 操作者可以通过观察压力计，调节仓内的真空度(d)。一旦真空处于正确的水平，关闭真空阀(e)并将样品放在真空仓的顶部(f)。向下按压杠杆释放真空(g)，使空气流入仓内。-一旦仓内的气压与环境一致，就可以移除真空仓，并进行成像(h)和分析(i)。 分散粉末后需要做什么? 一旦样品中的颗粒均匀分散，就可以使用扫描电镜(SEM)开始分析样品。飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统是专门为粒子分析设计的。该软件可以帮助用户根据不同参数(如直径，圆度或灰度)来分析粒子。通过数据中的异常值，用户可以使用 EDX 进行元素分析，从而获得更好的解决方案。 关键词：扫描电镜台式电镜台式扫描电镜桌面扫描电镜样品制备 关于作者 Willem van Zyl Willem van Zyl是荷兰飞纳的应用工程师，他对使用服务大众的分析仪器十分感兴趣，并且相信扫描电镜值得拥有。 由于增材制造的重要性日益提高，颗粒分析变得越来越重要，导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量最大化外，制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。在本篇文章中，将讨论如何使用 Nebula™ 颗粒分散器实现颗粒均匀分散，并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。分散粉末样品的原因为了确保颗粒分析的准确性，不仅需要分离单个颗粒，而且还要分离附着物。图 1 显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 Nebula™ 颗粒分散器之间的区别。图1：将粉末样品直接涂覆到碳导电胶（左）和使用 Nebula™ 颗粒分散器（右）之间的扫描电镜图比较。