高分子样品中微观玻璃化转移现象的观察检测方案(扫描探针)

Application Brief 应用原子力显微镜对高分子样品进行微观玻璃化转移现象的观察 前言 高分子材料的性质和构造在很多情况下是根据温度而变化的，过去一般通过热分析法和电子显微镜等研究高分子材料的性质和构造。现在原子力显微镜作为在纳米水平下对材料物理性质和结构研究的工具，被广泛的应用于高分子领域。 原子力显微镜可以在改变样品温度的同时，进行形貌及物理性质(如摩擦力或是粘弹性)的测量环境，可以从纳微米领域观察高分子材料随温度变化的状况。它与通常的热分析方法不同的是，热分析是研究样品内部宏观的信息，而原子力显微镜则是分析样品表面微小部分的热力学特性。 现在高分子薄膜被广泛应用于微电子领域，随着电子电路的大型化，微小化，高分子薄膜在微观领域的热性质分析也越来越重要。 应用举例： 以下以环氧树脂和碳素纤维样品举例。 应用变温型原子力显微镜，在75℃~145℃升温过程中测量样品表面的形貌及粘弹性变化，温度间隔5℃测量一幅图。((由于篇幅限制，以下仅列出其中部分粘弹性图结果) 将上图碳素纤维及环氧树脂方框中数据平均为Y轴，温度为X做曲线如下(该结果类同于热分析获得的曲线) 环氧树脂 碳素纤维 精工最新推出的环境可控型原子力显微镜 E-Sweep 可以在各种环境下(真空，加热，冷却，湿度)，测定材料的结构和物理性质。应用其Temperature Sweep for VE or FFM 功能，，可实现样品自动升温，稳定，同时样品的形貌及物理性能图形自动测定、解析、保存。配合低漂移、升温样品形变自动补偿、-120℃~300℃连续变温等最新技术，可轻松获不同温度条件下的图像，大大地减少了操作者的工作量，是对高分子材料的构造观察，物理性质解析等研究中不可缺少的工具。 联系人：刘金荣 电话：010-84851453，13911878264， jrliu@asi-team.com